大家好，我是記得誠。

2022年底，受邀去上海參加電子技術大會，并在一個硬件設計的分論壇做一場演講，題目是《硬件設計從失敗案例中找方法》，一般演講都是比較緊張的，而且是現場，臺下坐著的都是同行，大佬云集。

針對這種情況，我的做法是提前準備，先把PPT打磨好，然后對著空氣演講幾遍，演講和寫文章差別太大了，文章可以不斷的進行修改，將自己認為最完美的一版呈現給讀者。

而演講就不同了，說的話像潑出去的水一樣，是收不回來的，所以每一句話都顯得尤其的重要，而且中間不能有長時間的停頓。

我發現光演練，每一遍都有一些差異，所以就有了下面的逐字稿。

大家下午好，首先非常感謝大會的邀請，很榮幸也很開心，在這里，和大家做一個簡單的分享和交流，這次課題的名字是：硬件設計從失敗案例中找方法。

為什么取這個名字呢？因為成功不會從天而降，失敗往往有跡可循。

臺下很多都是工程技術人員，硬件工程師居多，我們都知道在一個項目的開發過程中，硬件工程師幾乎要參與到項目的每一個階段，從概念，到計劃，到開發驗證，再到后面的量產維護。

那大家有沒有思考過這樣一個問題，在哪一個階段，我們的收獲是最多的，這里的收獲我們指的是我們技術上的積累。

如果一個項目做下來，平平無奇，很平淡，一帆風順，我們用的電路都是標準化的電路，一些大公司標準化的電路，順利的跑完整個流程，沒犯錯，我們的KPI可能比較高。

但是讓我們技術成長，積累最多的，一定是熬夜加班DEBUG，調試一些新的電路方案，我們踩了一些坑，較勁腦子來把這些坑填平，我們把這些寶貴的踩坑經歷寫成文檔，形成方法論，再形成一個標準化的流程，我相信這才是真正的技術收獲。

大公司出錯幾率小，那是無數的前人栽了無數的樹，做了很多工作，包括標準化的文檔，標準化的作業流程等等。

我們今天的內容就是從三個案例，來介紹一些設計方法，調試方法，以及調試原理。

• 第1個案例是線性充電發熱問題，這里涉及的方法是冗余設計。

• 第2個案例是批次底電流差異問題的，這里涉及一個電流分解的方法，叫作灌電壓法。

• 第3個案例是SIM概率掉卡問題，這里介紹的是海森堡測不準原理。

然后下面就是逐一的講這幾個案例。

上海這次算是我第二次線下演講，整體對自己還是滿意的，緊張還是緊張，但是相比較第一次，有了長足的進步，說實話，還是挺享受這種感覺的。

繼續加油吧！

推薦閱讀：