#ifndef _SCU_TEST_H
#define _SCU_TEST_H

#include <types.h>

#define MAX_TS_NUM   24

typedef struct{
    int  cmd;
    void *param;
    int  len;
    }TestStruct;

typedef struct{
    int TestRslt;
    int ErrInfo[MAX_ERRINFO_LEN];
    }TestRsltStruct;

typedef struct{
    int WrTest;                /* 芯片讀寫測試：                   0（不測試) / 1（測試）*/
    int OnLineTest;            /* 系統(tǒng)運行時測試，不影響ABIS通道 , 0（不測試) / 1（測試）*/
    int FacTest;               /* 生產(chǎn)線測試，                     0（不測試) / 1（測試）*/
    }CommTestStruct;           /* 通信模塊測試結構*/

typedef struct{
    int WrTest;                /* 芯片讀寫測試結果：  SDE_OK / SDE_FAIL */
    int OnLineTest;            /* 系統(tǒng)運行時測試結果, SDE_OK / SDE_FAIL */
    int FacTest;               /* 生產(chǎn)線測試結果，    SDE_OK / SDE_FAIL */
    int ErrInfo[MAX_ERRINFO_LEN]; /* 錯誤信息 */
    }CommTestRsltStruct;

typedef struct{
    char ts[MAX_TS_NUM];
    int ParamLen;
    }TSTestStruct;
    
#endif