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  名稱：非門數字芯片測試
  論壇：www.doflye.net
  編寫：shifang
  日期：2009.5
  修改：無
  內容：通過電閃爍P1口狀態，觀測非門工作狀態
        主要測試非門功能和檢驗芯片是否正常工作
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#include<reg52.h> //包含頭文件，一般情況不需要改動，頭文件包含特殊功能寄存器的定義
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 uS延時函數，含有輸入參數 unsigned char t，無返回值
 unsigned char 是定義無符號字符變量，其值的范圍是
 0~255 這里使用晶振12M，精確延時請使用匯編,大致延時
 長度如下 T=tx2+5 uS 
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void DelayUs2x(unsigned char t)
{   
 while(--t);
}
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 mS延時函數，含有輸入參數 unsigned char t，無返回值
 unsigned char 是定義無符號字符變量，其值的范圍是
 0~255 這里使用晶振12M，精確延時請使用匯編
------------------------------------------------*/
void DelayMs(unsigned char t)
{
     
 while(t--)
 {
     //大致延時1mS
     DelayUs2x(245);
	 DelayUs2x(245);
 }
}

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                    主函數
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void main (void)
{
P1=0x00;          //初始化值
while (1)         //主循環
  {
   DelayMs(200);  //主循環中添加其他需要一直工作的程序
   DelayMs(200);  //延時后進行端口取反操作，用led看到的效果是閃爍
   P1=~P1;        
  }
}