IO端口動態測試范例-(精)(3512字)hotpower2004-9-4 23:18:28[74次]

IO端口動態測試范例 
HotPower 發表于 2004-8-22 10:08 侃單片機 ←返回版面   舉報該貼 

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本例程是以前發表的一個主題的關鍵部分

原主題為: <<如何保護IO管腳直接外接電源或地不燒毀？>>

本例程只給出了P1口的2種測試方法,其它PX基本同理.

本例程若加在某個定時器中斷中,且在50mS時調用此2個函數(1個或2個)
將會實現對IO的實時檢測,依據"理論"以后道來...
*/

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              P1端口測試
主要測試管腳接電源或地及相臨管腳的短路
-------------------------------------*/
unsigned char Port1Test(void)
{
unsigned char testval;
  P1 = 0x55;//奇數管腳發低電平
  _nop_();//延時
  testval = P1 ^ 0x55;//比較發送及接收結果
  P1 = 0xaa;//偶數管腳發低電平
  _nop_();//延時
  testval |= P1 ^ 0xaa;//比較發送及接收結果(2次的)
  P1 = 0xff;//釋放P1口，防止外部接入電源
  return testval;//測試成功返回0
}

/*------------------------------------
              P1端口掃描
實現Port1Test()的全部功能及任意管腳短路
-------------------------------------*/
unsigned char Port1Scan(void)
{
unsigned char scanval;
unsigned char val;
  scanval = 0;//暫設為成功標志
  if (P1 == 0xff) {//P1口未工作才測試
    val = 0xfe;//從P1.0開始測起
    CY = 1;//每次移入高電平
    do{
      P1 = val;//發送數據
      _nop_();//延時
      scanval = P1 ^ val;//比較發送及接收結果
      P1 = 0xff;//釋放P1口，防止外部接入電源
      if (scanval) break;//P1管腳出錯，立即退出
      _rlcr_(val);//帶進位位左移
    }
    while (CY);//8位數據未移完繼續
  }
  return scanval;//測試成功返回0
}