?? i2c_test.h
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//* Name:I2C_test.h *
//* Description: I2C test definitions *
//* Author: Shawn, Hsiao *
//* Date: 2006/08/07 *
//* Version:0.1 *
//* Note: modified from old burn-In *
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#ifndef BURNIN_I2C_H_INCLUDE
#define BURNIN_I2C_H_INCLUDE
//============================================================================
// Include
//============================================================================
#include "fLib.h"
//============================================================================
// Definition
//============================================================================
/* device
*/
#define DEVICE_ADDR 0xa8 //serial eeprom
#define READ_DEVICE (DEVICE_ADDR+1)
#define WRITE_DEVICE DEVICE_ADDR
/* controller
*/
#define I2C_GSR_Value 0x01
#define I2C_TSR_Value 0x20
#define I2C_CDR_Value 0x50 //*2 //ivan For CPE120
//
// 400K = PCLK/2*(count+1)
//
//============================================================================
// Functions
//============================================================================
int I2CTest(void);
void I2C_Isr(void);
UINT32 ByteWriteTest1(void);
UINT32 ByteWriteTest2(void);
UINT32 PageWriteTest1(void);
UINT32 PageWriteTest2(void);
void ByteWrite(UINT32 waddr,UINT32 wdata);
void PageWrite(UINT32 addr);
UINT32 RandomRead(UINT32 raddr);
#endif //BURNIN_I2C_H_INCLUDE
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