?? 低功耗芯片技術(shù)資料

?? 資源總數(shù)：15339
?? 技術(shù)文檔：1
?? 源代碼：12185
探索低功耗芯片的前沿技術(shù)，這里匯集了15339個(gè)精選資源，涵蓋從基礎(chǔ)理論到實(shí)際應(yīng)用的全方位知識(shí)。低功耗芯片以其卓越的能效比，在物聯(lián)網(wǎng)、可穿戴設(shè)備及移動(dòng)通信等領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。無(wú)論是追求更長(zhǎng)電池壽命的設(shè)計(jì)方案還是深入理解最新節(jié)能技術(shù)趨勢(shì)，本頁(yè)面都是您不可或缺的技術(shù)寶庫(kù)。立即加入我們，開(kāi)啟您的高效能設(shè)計(jì)之旅！

?? 低功耗芯片熱門(mén)資料

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設(shè)計(jì)了基于CPLD的低功耗溫度存儲(chǔ)式測(cè)試系統(tǒng)；運(yùn)用鎢錸熱電偶溫度傳感器匹配先進(jìn)的電源管理模塊，并結(jié)合動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)測(cè)試技術(shù)，能夠應(yīng)用于環(huán)境條件比較差的惡劣環(huán)境中，在可靠可信、微功耗的基礎(chǔ)上能得到較好的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。 ...

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在集成電路內(nèi)建自測(cè)試的過(guò)程中，電路的測(cè)試功耗通常顯著高于正常模式產(chǎn)生的功耗，因此低功耗內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)已成為當(dāng)前的一個(gè)研究熱點(diǎn)。為了減少被測(cè)電路內(nèi)部節(jié)點(diǎn)的開(kāi)關(guān)翻轉(zhuǎn)活動(dòng)率，研究了一種隨機(jī)單輸入跳變（Random Single Input Change，RSIC）測(cè)試向量生成器的設(shè)計(jì)方案，利用VHDL...

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