射頻識別(Radio Frequency Identification，RFID)是一種允許非接觸式數(shù)據(jù)采集的自動識別技術(shù)。其中工作在超高頻(Ultra High Frequency，UHF)頻段的無源RFID系統(tǒng)，由于在物流與供應(yīng)鏈管理等領(lǐng)域的潛在應(yīng)用，近年來得到了人們的廣泛關(guān)注。這種系統(tǒng)所使用的無源標(biāo)簽具有識別距離長、體積小、成本低廉等突出特點。目前在市場上出現(xiàn)了各種品牌型號的UHF RFID無源標(biāo)簽，由于不同品牌型號的標(biāo)簽在設(shè)計與制造工藝上的差異，這些標(biāo)簽在性能表現(xiàn)上各不相同，這就給終端用戶選擇合適自己應(yīng)用的標(biāo)簽帶來了困難。RFID基準(zhǔn)測試就是在實際部署RFID系統(tǒng)前對RFID標(biāo)簽的性能進行科學(xué)評估的有效手段。然而為了在常規(guī)實驗室條件下得到準(zhǔn)確公正的測試結(jié)果，需要對基準(zhǔn)測試的性能指標(biāo)及測試方法學(xué)開展進一步的研究。本文正是研究符合EPC Class1 Gen2標(biāo)準(zhǔn)的RFID標(biāo)簽基準(zhǔn)測試。 本文首先分析了當(dāng)前廣泛應(yīng)用的超高頻無源RFID標(biāo)簽基準(zhǔn)測試性能指標(biāo)與測試方法上的局限性與不足之處。例如，在真實的應(yīng)用環(huán)境中，由于受到各種環(huán)境因素的影響，對同一品牌型號的標(biāo)簽，很難得到一致的識讀距離測試結(jié)果。另外，在某些測試場景中，使用識讀速率作為測試指標(biāo)，所得到的測試結(jié)果數(shù)值非常接近，以致分辨度不足以區(qū)分不同品牌型號標(biāo)簽的性能差異。在這些分析基礎(chǔ)上，本文把路徑損耗引入了RFID基準(zhǔn)測試，通過有限點的測量與數(shù)據(jù)擬合分別得到不同類型標(biāo)簽的路徑損耗方程，結(jié)合讀寫器天線的輻射方向圖，進一步得到各種標(biāo)簽受限于讀寫器接收靈敏度的覆蓋區(qū)域。無源標(biāo)簽由于其被動式能量獲取方式，其實際工作區(qū)域仍然受限于前向鏈路。本文通過實驗測試出這些標(biāo)簽的最小激活功率后，得出了各種標(biāo)簽在一定讀寫器發(fā)射功率下的激活區(qū)域。完成這些步驟后，根據(jù)這兩種區(qū)域的交集可以確定標(biāo)簽的工作區(qū)域，從而進行標(biāo)簽間的比較并達到基準(zhǔn)測試的目的，并能找出限制標(biāo)簽工作范圍的瓶頸。 本文最后從功率損耗的角度研究了標(biāo)簽之間的相互干擾，為用戶在密集部署RFID標(biāo)簽的場景中設(shè)置標(biāo)簽之間的最小間隔距離具有重要的參考意義。
標(biāo)簽：
超高頻
射頻識別
基準(zhǔn)測試
上傳時間：
2013-04-24
上傳用戶：hbsunhui
