隨著設(shè)計(jì)規(guī)模的不斷增加，芯片的平均設(shè)計(jì)門數(shù)已經(jīng)超越百萬級(jí)，驗(yàn)證已經(jīng)成為設(shè)計(jì)流程中的主要瓶頸。目前，基于FPGA的硬件驗(yàn)證憑借其速度快、易修改的特性越來越受到驗(yàn)證工程師的青睞。 本文正是基于FPGA驗(yàn)證的思想，以一款光同步傳輸網(wǎng)(SDH)芯片的驗(yàn)證為例，展開了全面的論述。通過對(duì)驗(yàn)證理論以及FPGA性能特點(diǎn)的研究與分析，從驗(yàn)證的正確性、全面性、快速性和可重用性等方面對(duì)FPGA驗(yàn)證進(jìn)行了理論剖析，并提出了一些新的理念和創(chuàng)新。此后又結(jié)合實(shí)踐，詳盡敘述了驗(yàn)證中的一些重要環(huán)節(jié)，并總結(jié)出了一套比較完善的FPGA驗(yàn)證流程，可以有效地支撐實(shí)際芯片的驗(yàn)證工作。 本文對(duì)于百萬門級(jí)專用集成電路的成功實(shí)踐，不僅是對(duì)FPGA驗(yàn)證理論的證實(shí)，而且從驗(yàn)證的思路和方法上對(duì)后續(xù)芯片有一定的指導(dǎo)意義。文中經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)的總結(jié)可以有效地幫助驗(yàn)證工程師達(dá)到降低芯片開發(fā)成本，縮短面市時(shí)間的目的。
標(biāo)簽：
FPGA
門級(jí)
專用集成電路
上傳時(shí)間：
2013-05-17
上傳用戶：宋桃子
