在醫(yī)用電阻抗層析成像（Electrical Impedance Tomography）系統(tǒng)中電壓控制電流源的性能十分重要，大部分報(bào)道的電壓控電流源電路在低頻時(shí)有較高的輸出阻抗但是在高頻時(shí)性能大幅減弱。通過(guò)分析生物阻抗測(cè)量系統(tǒng)對(duì)電壓控制電流源的需求，同時(shí)回顧一些已有的電壓控制電流源電路，包括雙運(yùn)放負(fù)反饋電路、跨導(dǎo)運(yùn)算放大器、AD844，設(shè)計(jì)了一種基于AD8610的電壓控制電流源。并通過(guò)電路實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了此電壓控制電流源的性能，同時(shí)提出了改進(jìn)方案。該電壓電流源不僅頻率和幅值可控、精度高，而且有較高的輸出阻抗。
標(biāo)簽： 電阻抗 成像系統(tǒng) 電壓控制 電流源
上傳時(shí)間： 2013-11-05
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人們把電源模塊比喻為電子系統(tǒng)和電子設(shè)備的“心臟”，隨著電子器件的快速發(fā)展，對(duì)電源系統(tǒng)穩(wěn)定和可靠性的要越來(lái)越高。使用紅外熱像儀控制電源溫度，是提高電源系統(tǒng)穩(wěn)定性和可靠性的重要途徑。
標(biāo)簽： 電源檢測(cè) 熱像儀 制造業(yè)
上傳時(shí)間： 2014-12-24
上傳用戶：manga135
51單片機(jī)2.8寸26萬(wàn)像素LED顯示
標(biāo)簽： 2.8 LED 51單片機(jī) 萬(wàn)像素
上傳時(shí)間： 2013-11-07
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MSP430單片機(jī)實(shí)現(xiàn)微波成像系統(tǒng)的掃描控制與數(shù)據(jù)采集應(yīng)用MSP430單片機(jī)實(shí)現(xiàn)微波成像系統(tǒng)的天線掃描控制與數(shù)據(jù)采集功能，介紹了該系統(tǒng)控制及采集部分的硬件結(jié)構(gòu)及軟件設(shè)計(jì)。
標(biāo)簽： MSP 430 單片機(jī) 微波成像
上傳時(shí)間： 2013-10-28
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三種方法讀取鍵值 使用者設(shè)計(jì)行列鍵盤(pán)介面，一般常採(cǎi)用三種方法讀取鍵值。 中斷式 在鍵盤(pán)按下時(shí)產(chǎn)生一個(gè)外部中斷通知CPU，並由中斷處理程式通過(guò)不同位址讀資料線上的狀態(tài)判斷哪個(gè)按鍵被按下。 本實(shí)驗(yàn)採(cǎi)用中斷式實(shí)現(xiàn)使用者鍵盤(pán)介面。 掃描法 對(duì)鍵盤(pán)上的某一行送低電位，其他為高電位，然後讀取列值，若列值中有一位是低，表明該行與低電位對(duì)應(yīng)列的鍵被按下。否則掃描下一行。 反轉(zhuǎn)法 先將所有行掃描線輸出低電位，讀列值，若列值有一位是低表明有鍵按下；接著所有列掃描線輸出低電位，再讀行值。 根據(jù)讀到的值組合就可以查表得到鍵碼。4x4鍵盤(pán)按4行4列組成如圖電路結(jié)構(gòu)。按鍵按下將會(huì)使行列連成通路，這也是見(jiàn)的使用者鍵盤(pán)設(shè)計(jì)電路。 //-----------4X4鍵盤(pán)程序--------------// uchar keboard(void) { uchar xxa,yyb,i,key; if((PINC&0x0f)!=0x0f) //是否有按鍵按下 {delayms(1); //延時(shí)去抖動(dòng) if((PINC&0x0f)!=0x0f) //有按下則判斷 { xxa=~(PINC|0xf0); //0000xxxx DDRC=0x0f; PORTC=0xf0; delay_1ms(); yyb=~(PINC|0x0f); //xxxx0000 DDRC=0xf0; //復(fù)位 PORTC=0x0f; while((PINC&0x0f)!=0x0f) //按鍵是否放開(kāi) { display(data); } i=4; //計(jì)算返回碼 while(xxa!=0) { xxa=xxa>>1; i--; } if(yyb==0x80) key=i; else if(yyb==0x40) key=4+i; else if(yyb==0x20) key=8+i; else if(yyb==0x10) key=12+i; return key; //返回按下的鍵盤(pán)碼 } } else return 17; //沒(méi)有按鍵按下 }
上傳時(shí)間： 2013-11-12
上傳用戶：a673761058
醫(yī)療保健行業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)是通過(guò)非置入手段來(lái)實(shí)現(xiàn)早期疾病預(yù)測(cè)，降低病人開(kāi)支，這一趨勢(shì)促使醫(yī)療成像設(shè)備在該領(lǐng)域扮演了越來(lái)越重要的角色。為滿足這些行業(yè)目標(biāo)需要的功能，設(shè)
上傳時(shí)間： 2013-10-15
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針對(duì)彈載合成孔徑雷達(dá)（SAR）成像存在運(yùn)動(dòng)參數(shù)抖動(dòng)的問(wèn)題，分析了不規(guī)則運(yùn)動(dòng)造成圖像幾何失真的機(jī)理，提出了一種基于多項(xiàng)式逼近的彈載SAR線性調(diào)頻（LFM）信號(hào)前斜視成像幾何形變校正方法。掛飛試驗(yàn)證明，該方法能從雷達(dá)回波數(shù)據(jù)中準(zhǔn)確消除幾何形變，提高成像質(zhì)量。
上傳時(shí)間： 2013-10-27
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根據(jù)紅外成像無(wú)損檢測(cè)原理，利用機(jī)器視覺(jué)技術(shù)，通過(guò)實(shí)驗(yàn)將紅外熱像儀采集的亞表面紅外缺陷圖像進(jìn)行一系列的處理，包括濾波降噪，圖像增強(qiáng)，邊緣提取等，將缺陷檢測(cè)出來(lái)。文中用matlab和Visual C++2010聯(lián)合編程的方式對(duì)紅外缺陷進(jìn)行識(shí)別，通過(guò)窗口可視化將圖像和圖像中的缺陷位置，大小提取出來(lái)。通過(guò)多次實(shí)驗(yàn)，本方法能夠檢測(cè)大多的亞平面缺陷，具有較高的應(yīng)用價(jià)值。
標(biāo)簽： 紅外熱 成像技術(shù) 中的應(yīng)用 缺陷檢測(cè)
上傳時(shí)間： 2013-10-10
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在對(duì)低噪聲CMOS圖像傳感器的研究中，除需關(guān)注其噪聲外，目前數(shù)字化也是它的一個(gè)重要的研究和設(shè)計(jì)方向，設(shè)計(jì)了一種可用于低噪聲CMOS圖像傳感器的12 bit，10 Msps的流水線型ADC，并基于0.5 ?滋m標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝進(jìn)行了流片。最后，通過(guò)在PCB測(cè)試版上用本文設(shè)計(jì)的ADC實(shí)現(xiàn)了模擬輸出的低噪聲CMOS圖像傳感器的模數(shù)轉(zhuǎn)換，并基于自主開(kāi)發(fā)的成像測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了成像驗(yàn)證，結(jié)果表明，成像畫(huà)面清晰，該ADC可作為低噪聲CMOS圖像傳感器的芯片級(jí)模數(shù)轉(zhuǎn)換器應(yīng)用。
上傳時(shí)間： 2013-11-19
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紅外熱成像
標(biāo)簽： 紅外熱 成像系統(tǒng) 論文
上傳時(shí)間： 2013-10-19
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