研究了視線環(huán)境下毫米波降雨衰減和信號起伏效應(yīng)，為分析多徑環(huán)境對雨衰和雨致信號起伏效應(yīng)的影響提供了“比較標(biāo)準(zhǔn)”?；诹Ｗ由⑸湮绽碚?，簡述了雨衰機理，并通過仿真分析了現(xiàn)有雨哀工程模型的局限性，進(jìn)而提出了一種修正特征衰減模型參數(shù)的方法，基于ITU-R給出的35GHz模型參數(shù)對該修正方法進(jìn)行了驗證：根據(jù)隨機介質(zhì)波傳播理論，研究了雨粒子散射引起的信號起伏效應(yīng)?；谧灾鞔罱ǖ腒a波段信道哀落特性和降雨物理特征測量系統(tǒng)，分別在視線環(huán)境和多徑環(huán)境下，開展了關(guān)于雨哀和雨致信號起伏特性的測量實驗，根據(jù)儀器的測量原理，優(yōu)化了實測雨滴譜的提取方法，并提出了基于實測雨滴譜修正weibul模型參數(shù)的方法，建立了適用于西安地區(qū)精確的南滴尺寸分布模型，進(jìn)而結(jié)合等效介電常數(shù)理論修正了指數(shù)雨衰模型參數(shù)，比較了視線環(huán)境下修正模型的雨哀計算結(jié)果與實驗測量結(jié)果，以驗證所提出的模型參數(shù)修正方法的正確性和可行性。然而，將多徑環(huán)境下降雨特征代入修正模型中，其計算和實驗結(jié)果表明地形地物多徑環(huán)境會“放大”雨衰和信號起伏深度。基于電波傳播理論和等效均勻介質(zhì)理論，建立了復(fù)合環(huán)境下的電波傳播模型；在該模型基礎(chǔ)上，推導(dǎo)出了地形地物多徑傳播環(huán)境影響下的降雨衰減模型和信號起伏統(tǒng)計特性模型：仿真和討論了在典型地形地物多徑環(huán)境下，典型降雨時間序列下的衰減和信號起伏效應(yīng)，揭示了多徑環(huán)境“放大”大氣傳輸效應(yīng)的機理，并與實驗結(jié)果進(jìn)行了比較，驗證了該模型的有效性。本文研究方法對降雪、沙塵暴等惡劣天氣環(huán)境和地形地物多徑傳播環(huán)境綜合作用下毫米波傳播特性的研究具有重要的指導(dǎo)意義，同時其研究成果對5G應(yīng)用場景下亳米被信道建模，以及提高5G毫米波移動通信系統(tǒng)性能具有重要的應(yīng)用價值。
上傳時間： 2022-06-20
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PCB電路如微帶電路有較為顯著的介質(zhì)和輻射損耗，而傳統(tǒng)金屬波導(dǎo)雖然損耗低、信號干擾小，但其結(jié)構(gòu)很難做到小型化和集成。因此這兩種結(jié)構(gòu)不適用于要求低功耗且空間尺寸受限的移動終端。采用基片集成波導(dǎo)（SIW）可同時降低損耗和增加可集成性，其兼?zhèn)淞私饘俨▽?dǎo)和平面電路的優(yōu)良屬性，是未來5G毫米波終端應(yīng)用場景最佳的選項之一。本文的主要內(nèi)容包括：對SIw、波柬掃描陣、縫隙天線陣和Butler知陣多波束饋電網(wǎng)絡(luò)等基本原理進(jìn)行了簡要的回顧。此四方面的知識是本文所有設(shè)計的理論支撐。系統(tǒng)梳理了siw.縫隙天線陣的設(shè)計步驟和Butler矩陣饋電網(wǎng)絡(luò)的分析方法。提出了將4 x4 Butler矩陣多波束饋電網(wǎng)絡(luò)用于木來5G終端天線的設(shè)計以實現(xiàn)多波束寬角度高增益信號覆蓋、本文選擇采用了多被束方案，并結(jié)合了sG移動終端設(shè)計了適用于5G終端的4x4 Buter矩陣多波束饋電網(wǎng)絡(luò)和縫隙天線陣，加工測試表明多波束方案基本可滿足未來5G終端天線的要求。在傳統(tǒng)4x4 Butler的基礎(chǔ)上，提出和設(shè)計了一款改進(jìn)型的4x4 SIW Butler矩陣。從理論上驗證了方案的可行性且推導(dǎo)了各個器件須滿足的條件。新設(shè)計的Butler矩陣其核心是將移相器歸入到3dB定向耦合器的設(shè)計中。仿真和測試結(jié)果表明，改進(jìn)型的4x4 SIW Butler矩陣不僅擁有更好的輸出幅相平坦度還具有比傳統(tǒng)4x4 SIW Butler矩陣更高的設(shè)計靈活性。設(shè)計了一款3x3 SIw Butler矩陣。首先給出了該款矩陣的設(shè)計思路來源，然后從原理上驗證了此矩陣設(shè)計的可行性和詳細(xì)地推導(dǎo)出了3x3 Butler短陣的結(jié)構(gòu)和器件參數(shù)。仿真和結(jié)果表明，該型Butler矩陣比4×4 SIW Butler矩陣尺寸更小、結(jié)構(gòu)更簡單，但具有和4×4 SIW Buter矩陣相當(dāng)?shù)脑鲆嬷岛筒ㄊ采w范圍。
上傳時間： 2022-06-20
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Tanner版圖流程舉例（反相器）集成電路設(shè)計近年來發(fā)展相當(dāng)迅速，許多設(shè)計需要借助計算機輔助設(shè)計軟件。作為將來從事集成電路設(shè)計的工作人員，至少需要對版圖有所了解，但是許多軟件（如cadence）實在工作站上執(zhí)行的，不利于初學(xué)者。L-Edit軟件是基于PC上的設(shè)計工具，簡單易學(xué)，操作方便，通過學(xué)習(xí)，掌握版圖的設(shè)計流程。Tanner Pro簡介：Tanner Pro是一套集成電路設(shè)計軟件，包括S-EDIT，T-SPICE，W-EDIT，L-EDIT，與LVS，他們的主要功能分別如下：1、S-Edit：編輯電路圖2，T-Spice：電路分析與模擬3，W-Edit：顯示T-Spice模擬結(jié)果4，L-Edit：編輯布局圖、自動配置與繞線、設(shè)計規(guī)則檢查、截面觀察、電路轉(zhuǎn)化5、LVS：電路圖與布局結(jié)果對比設(shè)計規(guī)則的作用設(shè)計規(guī)則規(guī)定了生產(chǎn)中可以接受的幾何尺寸的要求和達(dá)到的電學(xué)性能。對設(shè)計和制造雙方來說，設(shè)計規(guī)則既是工藝加工應(yīng)該達(dá)到的規(guī)范，也是設(shè)計必循遵循的原則設(shè)計規(guī)則表示了成品率和性能的最佳折衷
標(biāo)簽： cmos
上傳時間： 2022-06-21
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摘要：隨著CCD性能的不斷提高，CCD技術(shù)在軍、民用領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用。介紹了TCDI501C線陣CCD的驅(qū)動電路設(shè)計，詳細(xì)介紹了用VHDL完成的CCD圖像傳感器驅(qū)動時序設(shè)計和視頻輸出差分信號驅(qū)動電路的設(shè)計。關(guān)鍵詞：線陣CCD；圖像傳感器：儀器儀表放大器；差分驅(qū)動1引言電荷耦合器件（CCD，Charge Couple Device）是20世紀(jì)60年代末期出現(xiàn)的新型半導(dǎo)體器件。目前隨著CCD器件性能不斷提高，在圖像傳感、尺寸測量及定位測控等領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛，CCD應(yīng)用的前端驅(qū)動電路成本價格昂貴，而且性能指標(biāo)受到生產(chǎn)廠家技術(shù)和工藝水平的制約，給用戶帶來很大的不便。CCD驅(qū)動器有兩種：一種是在脈沖作用下CCD器件輸出模擬信號，經(jīng)后端增益調(diào)整電路進(jìn)行電壓或功率放大再送給用戶；另一種是在此基礎(chǔ)上還包含將其模擬量按一定的輸出格式進(jìn)行數(shù)字化的部分，然后將數(shù)字信息傳輸給用戶，通常的線陣CCD攝像機就指后者，外加機械掃描裝置即可成像。所以根據(jù)不同應(yīng)用領(lǐng)域和技術(shù)指標(biāo)要求，選擇不同型號的線陣CCD器件，設(shè)計方便靈活的驅(qū)動電路與之匹配是CCD應(yīng)用中的關(guān)鍵技術(shù)之一。
上傳時間： 2022-06-23
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$1.1前言光電自動檢測技術(shù)在工業(yè)自動化生產(chǎn)中有著極其廣泛和重要的用途。然而，目前產(chǎn)品零件尺寸的檢測大多數(shù)是人工測量的接觸式和靜止測量，所以檢測速度低，生產(chǎn)效率低，勞動強度大，遠(yuǎn)遠(yuǎn)跟不上目前自動化生產(chǎn)的需要。尤其在全面質(zhì)量管理過程中，更需要先進(jìn)的、智能的檢測手段。目前，國內(nèi)外常采用激光掃描光電線徑測量4~，但是這種方法受電機的溫度及振動的影響，掃描恒速度的限制，會產(chǎn)生高溫使其降低壽命。我們研制的基于線陣CCD便攜式非接觸直徑測量儀器正是適應(yīng)當(dāng)前社會自動化生產(chǎn)的急需而設(shè)計的，該測徑儀是一種光、機、電一體化的產(chǎn)品。尤其適用于電纜、電線、玻璃管、軸類零件的外徑測量，對保證產(chǎn)品質(zhì)量，降低原材料消耗，降低生產(chǎn)成本，提高勞動生產(chǎn)率有著重大的經(jīng)濟效益和社會意義。
標(biāo)簽： ccd
上傳時間： 2022-06-23
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1引言隨著CCD技術(shù)的飛速發(fā)展，傳統(tǒng)的時序發(fā)生器實現(xiàn)方法如單片機D口驅(qū)動法，EPROM動法，直接數(shù)字驅(qū)動法等，存在著調(diào)試?yán)щy、靈活性較差、驅(qū)動時鐘頻率低等缺點，已不能很好地滿足CCD應(yīng)用向高速化，小型化，智能化發(fā)展的需要。而可編程邏輯器件CPLD具有了集成度高、速度快、可靠性好及硬件電路易于編程實現(xiàn)等特點，可滿足這些需要，而且其與VHDL語言的結(jié)合可以更好地解決上述問題，非常適合CCD驅(qū)動電路的設(shè)計。再加上可編程邏輯器件可以通過軟件編程對其硬件的結(jié)構(gòu)和工作方式進(jìn)行重構(gòu)，從而使得硬件的設(shè)計可以如同軟件設(shè)計那樣方便快捷，本文以東芝公司TCD1702C為例，闡述了利用CPLD技術(shù)，在分析其驅(qū)動時序關(guān)系的基礎(chǔ)上，使用VHDL語言實現(xiàn)了CCD驅(qū)動的原理和方法。2線陣的工作原理及驅(qū)動時序分析TCD1702C為THOSHBA公司生產(chǎn)的一種有效像元數(shù)為7500的雙溝道二相線陣CCD，其像敏單元尺寸為7um×7um×7um長寬高。中心距亦為7um.最佳工作頻率IMHzTCD1702C的原理結(jié)構(gòu)如圖1所示。它包括：由存儲電極光敏區(qū)和電荷轉(zhuǎn)移電極轉(zhuǎn)移柵組成的攝像機構(gòu)，兩個CCD移位寄存器，輸出機構(gòu)和補償機構(gòu)四個部分，如圖1所示，
標(biāo)簽： cpld vhdl ccd 驅(qū)動電路
上傳時間： 2022-06-23
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CCD（電荷耦合器件）的基本功能是將光學(xué)圖像信號轉(zhuǎn)變成一維以時間為變量的電壓信號，廣泛的應(yīng)用于元件尺寸測量以及位置檢測系統(tǒng)中。本課題背景是利用CCD檢測帶材邊緣的位置信息，為后續(xù)的控制系統(tǒng)提供數(shù)據(jù)。在帶鋼軋制現(xiàn)場，光照強度浮動因數(shù)很多：例如，光源受污染；給光源供電的電壓波動等都會造成光照條件的改變，影響測量的準(zhǔn)確性，不利于提高系統(tǒng)的信噪比l。為了提高系統(tǒng)的測量精度和抗干擾性，需要實時改變CCD的光積分時間以補償現(xiàn)場環(huán)境的影響。本文以TCD1501D型CCD芯片為例，分析了芯片的工作過程和驅(qū)動芯片的各個信號的要求，闡述了CCD驅(qū)動電路自適應(yīng)的實現(xiàn)，最后給出了系統(tǒng)仿真結(jié)果。1TCD1501D型CCD的工作原理和驅(qū)動時序的產(chǎn)生1.1TCD1501D芯片的介紹TCDI501D4是一種高靈敏度、低暗電流、5000像元且內(nèi)置采樣保持電路的線陣CCD圖像傳感器。
標(biāo)簽： cpld tcd1501d ccd 驅(qū)動電路
上傳時間： 2022-06-23
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1引言電荷耦合器CCD具有尺寸小、精度高、功耗低、壽命長、測量精度高等優(yōu)點，在圖像傳感和非接觸測量領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。由于CCD芯片的轉(zhuǎn)換效率、信噪比等光電特性只有在合適的時序驅(qū)動下才能達(dá)到器件工藝設(shè)計所要求的最佳值，以及穩(wěn)定的輸出信號，因此驅(qū)動時序的設(shè)計是應(yīng)用的關(guān)鍵問題之一。通用CCD驅(qū)動設(shè)計有4種實現(xiàn)方式：EPROM驅(qū)動法；IC驅(qū)動法；單片機驅(qū)動法以及可編程邏輯器件（PLD）驅(qū)動法。基于FPGA設(shè)計的驅(qū)動電路是可再編程的，與傳統(tǒng)的方法相比，其優(yōu)點是集成度高、速度快、可靠性好。若要改變驅(qū)動電路的時序，增減某些功能，僅需要對器件重新編程即可，在不改變?nèi)魏斡布那闆r下，即可實現(xiàn)驅(qū)動電路的更新?lián)Q代。2CD1501DCCD工作參數(shù)及時序分析
上傳時間： 2022-06-23
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機械工業(yè)是國民經(jīng)濟的裝備部門，而標(biāo)準(zhǔn)化和計量測試是機械工業(yè)發(fā)展的基礎(chǔ)和先決條件。在機械制造中，精密加工必須靠精密的測量手段來保證，加工精度的提供與計量技術(shù)的發(fā)展水平密切相關(guān)。測量與控制是促進(jìn)科技發(fā)展的一個重要因素。CCD（Charge Coupled Device），電荷耦合器件，是70年代初發(fā)展起來的新型半導(dǎo)體器件，其設(shè)計思想是由美國貝爾實驗室的Boyer與Smith于70年代提出]。二十多年來，CCD的研究取得了驚人的進(jìn)展，特別是在傳感器應(yīng)用方面發(fā)展迅速，已成為現(xiàn)代光電子學(xué)與現(xiàn)代測試技術(shù)中最活躍、最富有成果的新興領(lǐng)域之一。由于CCD具有自掃描、高分辨率、高靈敏度、重量輕、體積小、像素位置準(zhǔn)確、耗電少、壽命長、可靠性好、信號處理方便、易于與計算機配合等優(yōu)點，致使CCD光電尺寸測量的使用范圍和特性比現(xiàn)有的機械式、光學(xué)式、電磁式量儀優(yōu)越得多。特別值得注意的是CCD尺寸測量技術(shù)是一種非常有效的非接觸檢測方法，它使加工、檢測和控制過程融為一體成為可能。利用CCD作為光敏感器件的激光三角法測量技術(shù)在非接觸尺寸、位置測量中得到了廣泛應(yīng)用。它將激光束投射到被測物面所形成的漫反射光斑作為傳感信號，用透鏡成像原理將收集到的漫反射光匯集到CCD上形成像點，當(dāng)入射光斑隨被測物面移動時，成像點在CCD上作相應(yīng)移動，根據(jù)象移大小和傳感器的結(jié)構(gòu)參數(shù)可以確定被測物面的位移量，若在物體兩邊同時測量就可以得到物體的厚度。
標(biāo)簽： ccd 數(shù)據(jù)采集
上傳時間： 2022-06-23
上傳用戶：xsr1983
1引言有要發(fā)光二極管（OLED）具有低驅(qū)動電壓、寬溫工作、主動發(fā)光、響應(yīng)速度快和視角寬等優(yōu)點]，其作為全彩顯示器件，與LCD相比，具有更簡單的工藝和更低的成本。近年，單色和局域色的OLED顯示屏已有較多報道~1，并推出了全彩OLED顯示屏~9]。本文研制了尺寸為1.9、分辨率為128（×3）×160的全彩OLED屏。在目前報道的同等或以下尺寸的采用無源矩陣（PM）驅(qū)動的全彩OLED屏中，該屏的分辨率處于較高水平。2全彩OLED屏2.1全彩技術(shù)的實現(xiàn)圖1是5種實現(xiàn)全彩OLED顯示屏技術(shù)的示意圖。本文采用（a）所示的平面結(jié)構(gòu)式，每個全彩像素包括紅、綠和藍(lán)3個子像素，利用空間混色實現(xiàn)彩色。這種技術(shù)的難點是在制作全彩OLED時，需要將紅、綠和藍(lán)OLED的發(fā)光層（EML）材料分隔開01。屏的最高分辨率不僅受限于機械掩模制作的公差，還受限于在器件制作工藝過程中機械掩模與ITO基板玻璃的對準(zhǔn)誤差。2.2P-OLED屏的驅(qū)動技術(shù)OLFD屬于電流型器件，其發(fā)光亮度與驅(qū)動電流成正比，故OLED均采用恒流源驅(qū)動。由于OLED自身較高的寄生電容（20~30pF/pixel）和ITO電極引線的電阻（幾～幾109/口形成的電壓降，對恒流源的性能提出了較高的要求，例如可提供高達(dá)~30V的電壓。為了實現(xiàn)多灰度顯示，電流必須可程控。lare公司為了精確控制每個OLED子像素的發(fā)光亮度，提出了預(yù)充電方案]。根據(jù)有無開關(guān)和驅(qū)動薄膜晶體管的存在，可將矩陣式OLED的驅(qū)動可分為P10l和有源矩陣AM112種。PM驅(qū)動的顯示器件由于制作工藝比AM要簡單得多，且成本低廉，故在小尺寸的顯示器件上得到了廣泛應(yīng)用。PM驅(qū)動電路如圖2所示。
標(biāo)簽： oled
上傳時間： 2022-06-24
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