可測(cè)試性設(shè)計(jì)(Design-For-Testability,DFT)已經(jīng)成為芯片設(shè)計(jì)中不可或缺的重要組成部分。它通過(guò)在芯片的邏輯設(shè)計(jì)中加入測(cè)試邏輯提高芯片的可測(cè)試性。在高性能通用 CPU 的設(shè)計(jì)中,可測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù)得到了廣泛的應(yīng)用。本文結(jié)合幾款流行的 CPU,綜述了可應(yīng)用于通用 CPU 等高性能芯片設(shè)計(jì)中的各種可測(cè)試性方法,包括掃描設(shè)計(jì)(Scan Design),內(nèi)建自測(cè)試(Built-In Self-Test,BIST),測(cè)試點(diǎn)插入(Test Point Insertion),與 IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)兼容的邊界掃描設(shè)計(jì)(Boundary Scan Design,BSD)等技術(shù)。
標(biāo)簽:
可測(cè)試性設(shè)計(jì)
CPU
上傳時(shí)間:
2021-10-15
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