開題報告填寫要求 1.開題報告作為畢業(yè)設(shè)計(論文)答辯委員會對學(xué)生答辯資格審查的依據(jù)材料之一。此報告應(yīng)在指導(dǎo)教師指導(dǎo)下,由學(xué)生在畢業(yè)設(shè)計(論文)工作前期內(nèi)完成,經(jīng)指導(dǎo)教師簽署意見
標(biāo)簽: 畢業(yè)設(shè)計 報告 論文
上傳時間: 2013-04-24
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STM公司給我們上培訓(xùn)課時所用的培訓(xùn)資料,希望對初學(xué)者有用
上傳時間: 2013-08-01
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適用于PLC初學(xué)者,介紹詳細(xì),操作簡單,使用廣泛。是很好的軟件說明材料
標(biāo)簽: plc
上傳時間: 2013-07-12
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X射線衍射儀目前被廣泛應(yīng)用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學(xué)、材料生產(chǎn)等諸多領(lǐng)域。而X射線管是X衍射儀的關(guān)鍵部件之一,X射線被激發(fā)時會產(chǎn)生兩種譜線:特征譜線和連續(xù)譜線。X射線管的工作狀態(tài)決定能否產(chǎn)生符合實驗要求的X射線特征譜線和連續(xù)譜線,這就要求我們對X射線管的工作狀態(tài)進(jìn)行精確控制。 本文根據(jù)X射線管工作狀態(tài)和衍射儀相關(guān)功能的要求,提出了基于ARM和uCOS-Ⅱ的衍射儀高壓控制系統(tǒng)的設(shè)計方案,并在分析和研究的基礎(chǔ)上,實現(xiàn)并驗證了該方案。該系統(tǒng)以ARM為主控制芯片,結(jié)合CPLD芯片,完成對X射線管工作狀態(tài)的控制和其它相關(guān)功能的控制。由于多任務(wù)的需要,在ARM的基礎(chǔ)上引入了嵌入式操作系統(tǒng)uCOS-Ⅱ。具體的,本文完成了相應(yīng)原理圖和印刷電路板的設(shè)計。在ARM7芯片LPC2378上,完成了嵌入式操作系統(tǒng)uCOS-II的移植;在uCOS-II操作系統(tǒng)上,通過對ARM芯片編程,實現(xiàn)了對X射線管的工作狀態(tài)進(jìn)行精確控制,以及光閘、水循環(huán)等相關(guān)功能的控制。 上述系統(tǒng)已通過實際的安裝調(diào)試。測試結(jié)果表明,該系統(tǒng)能夠滿足設(shè)計要求,實現(xiàn)全部的預(yù)期功能,可完成對X射線管的工作狀態(tài)的精確控制,和衍射儀相關(guān)功能的控制。
上傳時間: 2013-04-24
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目錄 第1章 初識Protel 99SE 1.1 Protel 99SE的特點 1.2 Protel 99SE的安裝 1.2.1 主程序的安裝 1.2.2 補丁程序的安裝 1.2.3 附加程序的安裝 1.3 Protel 99SE的啟動與工作界面 第2章 設(shè)計電路原理圖 2.1 創(chuàng)建一個新的設(shè)計數(shù)據(jù)庫 2.2 啟動原理圖編輯器 2.3 繪制原理圖前的參數(shù)設(shè)置 2.3.1 工作窗口的打開/切換/關(guān)閉 2.3.2 工具欄的打開/關(guān)閉 2.3.3 繪圖區(qū)域的放大/縮小 2.3.4 圖紙參數(shù)設(shè)置 2.4 裝入元件庫 2.5 放置元器件 2.5.1 通過原理圖瀏覽器放置元器件 2.5.2 通過菜單命令放置元器件 2.6 調(diào)整元器件位置 2.6.1 移動元器件 2.6.2 旋轉(zhuǎn)元器件 2.6.3 復(fù)制元器件 2.6.4 刪除元器件 2.7 編輯元器件屬性 2.8 繪制電路原理圖 2.8.1 普通導(dǎo)線連接 2.8.2 總線連接 2.8.3 輸入/輸出端口連接 2.9 Protel 99SE的文件管理 2.9.1 保存文件 2.9.2 更改文件名稱 2.9.3 打開設(shè)計文件 2.9.4 關(guān)閉設(shè)計文件 2.9.5 刪除設(shè)計文件 第3章 設(shè)計層次電路原理圖 3.1 自頂向下設(shè)計層次原理圖 3.1.1 建立層次原理圖總圖 3.1.2 建立層次原理圖功能電路原理圖 3.2 自底向上設(shè)計層次原理圖 3.3 層次原理圖總圖/功能電路原理圖之間的切換 第4章 電路原理圖的后期處理 4.1 檢查電路原理圖 4.1.1 重新排列元器件序號 4.1.2 電氣規(guī)則測試 4.2 電路原理圖的修飾 4.2.1 在原理圖瀏覽器中管理電路圖 4.2.2 對齊排列元器件 4.2.3 對節(jié)點/導(dǎo)線進(jìn)行整體修改 4.2.4 在電路原理圖中添加文本框 4.3 放置印制電路板布線符號 第5章 制作/編輯電路原理圖元器件庫 5.1 創(chuàng)建一個新的設(shè)計數(shù)據(jù)庫 5.2 啟動元器件庫編輯器 5.3 編輯元器件庫的常用工具 5.3.1 繪圖工具 5.3.2 IEEE符號工具 5.4 在元器件庫中制作新元器件 5.4.1 制作新元器件前的設(shè)置 5.4.2 繪制新元器件 5.4.3 在同一數(shù)據(jù)庫下創(chuàng)建一個新的元器件庫 5.4.4 修改原有的元器件使其成為新元器件 5.4.5 從電路原理圖中提取元器件庫 第6章 生成各種原理圖報表文件 6.1 生成網(wǎng)絡(luò)表文件 6.1.1 網(wǎng)絡(luò)表文件的結(jié)構(gòu) 6.1.2 網(wǎng)絡(luò)表文件的生成方法 6.2 生成元器件材料清單列表 6.3 生成層次原理圖組織列表 6.4 生成層次原理圖元器件參考列表 6.5 生成元器件引腳列表 第7章 設(shè)計印制電路板 7.1 肩動印制電路板編輯器 7.2 PCB的組成 7.3 PCB中的元器件 7.3.1 PCB中的元器件組成 7.3.2 PCB中的元器件封裝 7.4 設(shè)置工作層面 7.5 設(shè)置PCB工作參數(shù) 7.5.1 設(shè)置布線參數(shù) 7.5.2 設(shè)置顯示模式 7.5.3 設(shè)置幾何圖形顯示/隱藏功能 7.6 對PCB進(jìn)行布線 7.6.1 準(zhǔn)備電路原理圖并設(shè)置元器件屬性 7.6.2 啟動印制電路板編輯器 7.6.3 設(shè)定PCB的幾何尺寸 7.6.4 加載元器件封裝庫 7.6.4 裝入網(wǎng)絡(luò)表 7.6.5 調(diào)整元器件布局 7.6.6 修改元器件標(biāo)灃 7.6.7 自動布線參數(shù)設(shè)置 7.6.8 自動布線器參數(shù)設(shè)置 7.6.9 選擇自動布線方式 7.6.10 手動布線 7.7 PCB布線后的手動調(diào)整 7.7.1 增加元器件封裝 7.7.2 手動調(diào)整布線 7.7.3 手動調(diào)整布線寬度 7.7.4 補淚焊 7.7.5 在PcB上放置漢字 7.8 通過PCB編輯瀏覽器進(jìn)行PCB的管理 7.8.1 設(shè)置網(wǎng)絡(luò)顏色屬性 7.8.2 快速查找焊盤 7.9 顯示PCB的3D效果圖 7.10 生成PCB鉆孔文件報表 ......
標(biāo)簽: Protel 99 SE 電路設(shè)計
上傳時間: 2013-06-17
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隨著超聲檢測理論逐漸成熟,以及現(xiàn)代集成電路的快速發(fā)展,超聲檢測技術(shù)以其快速、準(zhǔn)確、無污染、低成本等特點,成為國內(nèi)外應(yīng)用廣泛、發(fā)展迅速、使用頻率最高的一種無損檢測技術(shù)。其中超聲儀器的發(fā)展水平直接影響著超聲檢測技術(shù)的發(fā)展。數(shù)字化、圖像化、小型化和實時化等是超聲檢測儀器的發(fā)展趨勢。傳統(tǒng)的超聲檢測系統(tǒng)中,PC機存在難以適應(yīng)惡劣的工作環(huán)境,體積大,攜帶不方便,功耗大,數(shù)據(jù)傳輸率不高等問題,并且大部分便攜式超聲探傷儀缺乏對復(fù)雜數(shù)字信號處理算法的支持,因此開發(fā)與設(shè)計一種高性能、小型化的便攜式超聲探傷檢測系統(tǒng)尤為重要。 ARM的數(shù)字信號處理能力和DSP的系統(tǒng)控制能力都有其各自弱點,所以文中提出了一種基于ARM與DSP雙CPU方案的便攜式超聲探傷儀,充分利用了ARM與DSP的處理性能,接口簡單。ARM利用DSP的主機接口與DSP通信,不會打斷DSP的正常運行。本方案為復(fù)雜的信號處理算法提供硬件支持,可以有效的提高便攜式超聲探傷儀器的信號處理能力。 超聲探傷回波中的缺陷信號往往與系統(tǒng)的電噪聲、金屬組織噪聲混在一起,影響超聲檢測回波的信噪比。粗晶材料由于其微觀結(jié)構(gòu)對超聲的強烈散射,造成嚴(yán)重的材料噪聲和信號衰減,致使超聲檢測靈敏度和信噪比嚴(yán)重下降。目前,對粗晶材料的檢測仍然是超聲檢測技術(shù)的一大難題。采用信號處理技術(shù)提高超聲檢測能力和信噪比是無損檢測領(lǐng)域的重要研究課題。本文在設(shè)計具備復(fù)雜信號處理能力的便攜式探傷儀的基礎(chǔ)上,進(jìn)行了適合在便攜式儀器上實現(xiàn)的小波變換算法的研究,嘗試提高便攜式儀器對粗晶材料缺陷的檢測能力。
標(biāo)簽: ARM DSP 便攜式 儀的設(shè)計
上傳時間: 2013-04-24
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在諸多行業(yè)的材料及材料制成品中,表面缺陷是影響產(chǎn)品質(zhì)量的重要因素之一。研究具有顯微圖像實時記錄、處理和顯示功能的材料表面缺陷檢測技術(shù),對材料的分選和材料質(zhì)量的檢查及評價具有重要的意義。 本文以聚合物薄膜材料為被測對象,研究了適用于材料表面缺陷檢測的基于現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)的缺陷數(shù)據(jù)實時處理技術(shù),可實時提供缺陷顯微圖像信息,完成了對現(xiàn)有材料缺陷檢測裝置的數(shù)字化改造與性能擴展。本文利用FPGA并行結(jié)構(gòu)、運算速度快的特點實現(xiàn)了材料缺陷的實時檢測。搭建了以FPGA為核心的缺陷數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的硬件電路;重點針對聚合物薄膜材料缺陷信號的數(shù)據(jù)特征,設(shè)計了基于FPGA的缺陷圖像預(yù)處理方案:首先對通過CCD獲得的聚合物薄膜材料的缺陷信號進(jìn)行處理,利用動態(tài)閾值定位缺陷區(qū)域,將高于閾值的數(shù)據(jù)即圖像背景信息舍棄,保留低于閾值的數(shù)據(jù),即完整保留缺陷顯微圖像的有用信息;然后按照預(yù)先設(shè)計的封裝格式封裝缺陷數(shù)據(jù);最后通過USB2.0接口將封裝數(shù)據(jù)傳輸至上位機進(jìn)行缺陷顯微圖像重建。此方案大大減少了上傳數(shù)據(jù)量,緩解了上位機的壓力,提高了整個缺陷檢測裝置的檢測速度。本文對標(biāo)準(zhǔn)模板和聚合物薄膜材料進(jìn)行了實驗驗證。實驗結(jié)果表明,應(yīng)用了基于FPGA的缺陷數(shù)據(jù)實時處理技術(shù)的CCD掃描缺陷檢測裝置可對70μm~1000μm范圍內(nèi)的缺陷進(jìn)行有效檢測,實時重建的缺陷顯微圖像與實際缺陷在形狀和灰度上都有很好的一致性。
標(biāo)簽: CCD 缺陷檢測 實時數(shù)據(jù) 處理技術(shù)
上傳時間: 2013-05-19
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超聲診斷技術(shù)具有安全、無痛苦、無損害、方法簡便、適應(yīng)面廣、直觀、顯像清晰、可重復(fù)檢查、對軟組織鑒別能力強、診斷準(zhǔn)確性高、靈活以及價廉等優(yōu)點,已經(jīng)成為當(dāng)代醫(yī)學(xué)圖像診斷中的首選技術(shù)。眼科超聲診斷儀是超聲診斷中的一種??圃O(shè)備,它可以用來診斷視網(wǎng)膜脫落、眼內(nèi)和眼眶腫瘤、玻璃體混濁、出血、眼底病變及眼內(nèi)異物等疾病。近年來,隨著數(shù)字信號處理、硬件軟件設(shè)計能力以及材料學(xué)等方面的快速發(fā)展,眼科超聲診斷儀在多方面都有了長足的進(jìn)步。這其中數(shù)字化眼科超聲診斷儀是發(fā)展的重點。 本文從超聲診斷儀原理及設(shè)計入手,著重描述了該系統(tǒng)的軟硬件結(jié)構(gòu),同時對超聲信號進(jìn)行數(shù)字化處理的各個子模塊進(jìn)行了介紹,并結(jié)合各種數(shù)字信號處理方法的特點,對現(xiàn)成可編程門陣列的結(jié)構(gòu)特點、編程原理及設(shè)計流程作了簡單介紹。在此基礎(chǔ)上,著重討論了FIR濾波器的設(shè)計并得以在FPGA實現(xiàn),應(yīng)用于信號處理各子模塊中。最后通過構(gòu)建實驗?zāi)P万炞C了系統(tǒng)各階段信號處理的有效性。對正常人體眼球田眼眶進(jìn)行檢測,獲得了很好的回波信號。本設(shè)計對眼科高頻超聲回波信號具有良好的實時處理能力,達(dá)到了設(shè)計要求,具有良好的應(yīng)用前景。
上傳時間: 2013-06-05
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渦流無損檢測技術(shù)作為五大常規(guī)無損檢測技術(shù)之一,不僅能夠探測導(dǎo)體表面的涂層厚度,材料成分,組織狀態(tài)以及某些物理量和機械量,還能檢測材料或構(gòu)件中是否有缺陷并判斷缺陷的形狀、大小、分布、走向。脈沖渦流無損檢測技術(shù)因其激勵信號的頻域特點,具有有效率高,檢測準(zhǔn)確的特性,因而有著廣泛的應(yīng)用前景。 用無損檢測方法進(jìn)行鋼鐵材質(zhì)檢測的研究工作取得了大量成果,然而對于鋼材及其制品的混料、硬度和裂紋質(zhì)量檢測還存在許多難題,如用傳統(tǒng)檢測方法檢測齒輪毛坯的硬度效果不夠理想,而且人工記錄方法較慢。 本文以渦流檢測技術(shù)理論為基礎(chǔ),系統(tǒng)地分析了脈沖渦流檢測的基本理論。在此基礎(chǔ)上設(shè)計了一套用于檢測鋼鐵材硬度的脈沖渦流檢測儀器。該脈沖渦流檢測系統(tǒng)可分為硬件、軟件兩個子系統(tǒng)。整個系統(tǒng)由激勵源、渦流傳感器、數(shù)據(jù)處理、結(jié)果顯示這四個主要部分組成。在渦流探傷中,影響渦流的因素很多,產(chǎn)生大量噪聲使得信號分析相對困難。系統(tǒng)以FPGA為開發(fā)平臺,使得信號激勵和信號的采集可以在同一電路中實現(xiàn),從而提高了信號處理的精確性,接著利用主成分分析方法去除噪音,提取信號的特征值,建立回歸方程,利用最小二乘法實現(xiàn)對鋼鐵材質(zhì)硬度的測量。實驗結(jié)果表明,以FPGA為開發(fā)平臺,采用脈沖渦流激勵的方式及相關(guān)的脈沖渦流的主成分分析處理方法,使鋼鐵材質(zhì)硬度的判別準(zhǔn)確率有了很大提高。
上傳時間: 2013-04-24
上傳用戶:327000306
文中簡單闡述了紅外輻射機理,論述了紅外焦平面陣列技術(shù)的發(fā)展?fàn)顩r。紅外成像系統(tǒng),尤其是紅外焦平面陣列,由于探測器材料和制造工藝的原因,各像素點之間的靈敏度存在差別,甚至存在一些缺陷點,各個探測單元特征參數(shù)不完全一致,因而存在著較大的非均勻性,降低了圖像的分辨率,影響了紅外成像系統(tǒng)的有效作用距離。實時非均勻性校正是提高和改善紅外圖像質(zhì)量的一項重要技術(shù)。 論文建立了描述其非均勻性的數(shù)學(xué)模型,分析了紅外焦平面陣列非均勻性產(chǎn)生的原因及特點,討論了幾種常用的非均勻性校正的方法,指出了其各自的優(yōu)缺點和適應(yīng)場合。 根據(jù)紅外探測器光譜響應(yīng)的特點和基于參考源的兩點溫度非均勻性校正理論,采用FPGA+DSP實現(xiàn)紅外成像系統(tǒng)實時非均勻性兩點校正,設(shè)計完成了相應(yīng)的紅外焦平面陣列非均勻性校正硬件電路。對該系統(tǒng)中各個模塊的功能及電路實現(xiàn)進(jìn)行了詳細(xì)的描述,并給出了相應(yīng)的結(jié)構(gòu)框圖。同時給出了該圖像處理器的部分軟件流程圖。該方法動態(tài)范圍大而且處理速度快,適用于紅外成像系統(tǒng)實時的圖像處理場合。實踐表明,該方案取得了較為滿意的結(jié)果。
上傳時間: 2013-04-24
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