本程序是BP算法的演示程序, 其中的Levenberg-Marquardt算法具有實(shí)用價(jià)值. 一、網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練 程序默認(rèn)狀態(tài)是樣本訓(xùn)練狀態(tài),現(xiàn)將樣本訓(xùn)練狀態(tài)下的如何訓(xùn)練網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行說明: 1.系統(tǒng)精度: 定義系統(tǒng)目標(biāo)精度,根據(jù)需要定義網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練誤差精度.誤差公式是對訓(xùn)練出網(wǎng)絡(luò)的輸出層節(jié)點(diǎn)和實(shí)際的網(wǎng)絡(luò)輸出結(jié)果求平方差的和. 最大訓(xùn)練次數(shù): 默認(rèn)為10000次,根據(jù)需要調(diào)整,如果到達(dá)最大訓(xùn)練次數(shù)網(wǎng)絡(luò)還未能達(dá)到目標(biāo)精度,程序退出. 3.步長: 默認(rèn)為0.01,由于采用變步長算法,一般不需人工設(shè)置. 4.輸入層數(shù)目: 人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的輸入層神經(jīng)元的節(jié)點(diǎn)數(shù)目. 5.隱含層數(shù)目: 人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的隱含層神經(jīng)元的節(jié)點(diǎn)數(shù)目. 6.輸出層數(shù)目: 人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的輸出層神經(jīng)元的節(jié)點(diǎn)數(shù)目. 7.訓(xùn)練算法: 強(qiáng)烈建議選取Levenberg-Marquardt算法,該算法經(jīng)過測試比較穩(wěn)定. 8.激活函數(shù): 不同的網(wǎng)絡(luò)激活函數(shù)表現(xiàn)的性能不同,可根據(jù)實(shí)際情況選擇. 9.樣本數(shù)據(jù)的處理: 由于程序沒有實(shí)現(xiàn)歸一化功能, 因此用來訓(xùn)練的樣本數(shù)據(jù)首先要?dú)w一化后才能進(jìn)行訓(xùn)練.
標(biāo)簽： Levenberg-Marquardt 程序 狀態(tài) 樣本
上傳時(shí)間： 2013-12-19
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采用LDLT分解法解病態(tài)方程組，采用迭代求精法，將求解中丟失的殘向量逐步找回來，這樣可以求得更為精確的解。
上傳時(shí)間： 2013-12-20
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Vc 入門景點(diǎn)，結(jié)合譚浩強(qiáng)的作品把講座和輸給綜合壓縮了，很值得看。話不多卻很精
標(biāo)簽： Vc
上傳時(shí)間： 2016-06-23
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MSP430的LED數(shù)碼管顯示電路設(shè)計(jì)的程序部分，該部分是《MSP430單片機(jī)C語言應(yīng)用程序設(shè)計(jì)實(shí)例精講》中的程序內(nèi)容。
標(biāo)簽： MSP 430 LED 數(shù)碼管顯示
上傳時(shí)間： 2014-01-05
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自由空間E和H場的相位差和振幅衰落，可以顯示波形。場特性，方向圖，增益等
上傳時(shí)間： 2013-12-23
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應(yīng)用自適應(yīng)的干擾對消法去除高斯白噪聲，程序中給出兩種相關(guān)噪聲產(chǎn)生的方法，第一種只有一個(gè)噪聲是隨機(jī)產(chǎn)生的，第二種兩個(gè)噪聲都是隨機(jī)產(chǎn)生的。程序中給出了去噪后信噪比和均方差的增益。
上傳時(shí)間： 2013-11-30
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7279的驅(qū)動(dòng)程序，精儀達(dá)盛FPGA套件內(nèi)付源碼
標(biāo)簽： 7279 驅(qū)動(dòng)程序
上傳時(shí)間： 2016-07-26
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mlxos是一個(gè)微內(nèi)核操作系統(tǒng)源碼，短小精焊
標(biāo)簽： mlxos 微內(nèi)核 操作系統(tǒng) 源碼
上傳時(shí)間： 2016-07-27
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本代碼為magicchip原創(chuàng)代碼，為在UCOS下使用的貪吃蛇小游戲，與手機(jī)中游戲使用方法相同，玩起來趣味性很強(qiáng)，同時(shí)可以作為游戲編程練習(xí)之用。代碼短小精焊，但功能相當(dāng)強(qiáng)悍，玩起來不亞于專業(yè)的游戲機(jī)。
上傳時(shí)間： 2013-12-26
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
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