?? 輻射技術(shù)資料

?? 資源總數(shù):247
?? 源代碼:77
輻射技術(shù)在電子工程領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色,涵蓋從基礎(chǔ)理論到高級(jí)應(yīng)用的廣泛知識(shí)。本頁(yè)面匯集了247個(gè)精選資源,深入探討電磁兼容性、天線(xiàn)設(shè)計(jì)及無(wú)線(xiàn)通信等關(guān)鍵主題,助力工程師掌握如何有效管理和利用輻射能量。無(wú)論您是致力于優(yōu)化產(chǎn)品性能還是研究前沿科技,這里都是您的理想學(xué)習(xí)平臺(tái)。立即訪(fǎng)問(wèn),開(kāi)啟您的專(zhuān)業(yè)成長(zhǎng)之旅!

?? 輻射熱門(mén)資料

查看全部247個(gè)資源 ?

隨著半導(dǎo)體工藝的飛速發(fā)展和芯片設(shè)計(jì)水平的不斷進(jìn)步,ARM微處理器的性能得到大幅度地提高,同時(shí)其芯片的價(jià)格也在不斷下降,嵌入式系統(tǒng)以其獨(dú)有的優(yōu)勢(shì),己經(jīng)廣泛地滲透到科學(xué)研究和日常生活的各個(gè)方面。 本文以ARM7 LPC2132處理器為核心,結(jié)合蓋革一彌勒計(jì)數(shù)管對(duì)Time-To-Count輻射測(cè)量方法進(jìn)行...

?? ?? pinksun9

 本文介紹了O P207 雙極運(yùn)算放大器的60CoC射線(xiàn)、不同能量電子和質(zhì)子的輻照試驗(yàn)以及60CoC和電子輻射損傷在室溫和100℃高溫條件下的退火效應(yīng), 揭示了雙極運(yùn)算放大器電參數(shù)對(duì)不同射線(xiàn)的輻照響應(yīng)規(guī)律; 研究了不同輻射源對(duì)雙極運(yùn)算放大器的不同輻射損傷機(jī)理; 并對(duì)質(zhì)子輻照損傷程度與能量的依賴(lài)關(guān)...

?? ?? gououo

?? 輻射源代碼

查看更多 ?
?? 輻射資料分類(lèi)