基于FPGA的虛擬邏輯分析儀
隨著數字技術、大規模集成電路及計算機的大量普及和快速發展，邏輯分析儀(Logic Analyzer，簡稱LA)作為數字系統的數據域測試儀器中應用最為廣泛、最有代表性的一種通用測試儀器，為解決越來越復雜的數字系統的檢測和故障診......
邏輯測試技術資料
?? 資源總數：14926
?? 源代碼：24412
邏輯測試是電子工程中不可或缺的一環，專注于驗證數字電路及系統功能的正確性。通過精心設計的測試向量與算法，它能夠高效地檢測出硬件設計中的潛在錯誤，確保產品性能穩定可靠。廣泛應用于微處理器、FPGA開發以及嵌入式系統等領域。掌握邏輯測試技術不僅有助于提升個人技能水平，還能顯著提高項目成功率。本頁面匯集了14926份精選資源，涵蓋從基礎理論到高級應用的全方位知識體系，助力每一位工程師成為領域專家。
?? 邏輯測試熱門資料
查看全部14926個資源 ?數字集成電路與嵌入式內核系統可測試性設計（影印版）
·書中包括的索引使你能夠根據自己的需要，直接閱讀你所關注的內容。主要內容包括：設計核心，關注嵌入核心和嵌入存儲器；系統集成和超大規模集成電路的設計問題；AC掃描、正常速度掃描和嵌入式可測試性設計；內建、自測試、含內存BIST、邏輯BIST及掃描BIST；虛擬測試套接字和隔離測試 ·重用設計，包括重用...
基于二叉樹的時序電路測試序列設計
為了實現時序電路狀態驗證和故障檢測，需要事先設計一個輸入測試序列。基于二叉樹節點和樹枝的特性，建立時序電路狀態二叉樹，按照電路二叉樹節點(狀態)與樹枝(輸入)的層次邏輯關系，可以直觀和便捷地設計出時序電路測試序列。用測試序列激勵待測電路，可以驗證電路是否具有全部預定狀態，是否能夠實現預定狀態...
模塊電源功能性參數指標及測試方法
模塊電源的電氣性能是通過一系列測試來呈現的，下列為一般的功能性測試項目，詳細說明如下： 電源調整率(Line Regulation) 負載調整率(Load Regulation) 綜合調整率(Conmine Regulation) 輸出漣波及雜訊(Ripple & Noise) 輸入功率...
基于AVR單片機和CPLD的姿態測試系統設計
摘要：本系統采用cPLD和AvR單片機作為邏輯控制核心，設計了姿態存儲測試系統，以實現姿態信息的采集、編幀和存儲。詳細介紹了姿態測試系統的工作原理和硬件設計。利用AVR單片機，控制數據的寫、讀、擦除操作，利用cPLD的邏輯控制功能完善了存儲測試系統的各個工作狀態，提高了存儲測試系統工作的可靠性。...
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