DVI（Digital Visual Interface），是1999年由Silicon Im-age、lntel（英特爾）、Compaq（康柏）、IBM、HP（惠普）、NEC、Fujitsu（富士通）等公司共同組成的數(shù)字顯示工作組DDWG（Digital Display Working Group）推出的接口標(biāo)準(zhǔn)，其外觀是一個(gè)24針的接插件（中-1。DVI接口采用高速串行的方式傳輸數(shù)據(jù)，在正常的使用情況下，DVI傳輸從計(jì)算機(jī)引出后直接連接到顯示終蠟，中間只經(jīng)過兩對匹配的連接器和長度比較短的DVI線纜，DVI信號(hào)在這種情況下的傳輸一般都不會(huì)存在什么問題。當(dāng)前在工業(yè)控制等惡劣環(huán)境領(lǐng)域DVI接口的使用頻率也越來越頻繁，在工業(yè)控制環(huán)境下，DVI傳輸需要經(jīng)過除標(biāo)準(zhǔn)傳輸線纜外的其它環(huán)境，如底板、轉(zhuǎn)接線等，傳輸線的長度也可能比較長，而且當(dāng)前在工業(yè)控制領(lǐng)域基于DVI接口的電路基本上仍然采用原有的VGA接口電路的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)，在信號(hào)引出時(shí)仍采用傳統(tǒng)連接器，而不是專用的差分連接器。以上這些情況都導(dǎo)致在工業(yè)控制環(huán)境下DVI信號(hào)傳輸經(jīng)常出現(xiàn)信號(hào)完整性問題]。本文針對常見的DVI信號(hào)完整性問題，提出了基于電路仿真的解決方法，并結(jié)合具體的硬件平臺(tái)詳細(xì)說明了該方法的實(shí)現(xiàn)過程。使用基于電路仿真的方法可以得到DVI傳輸?shù)臉O限情況，合理為設(shè)計(jì)留有裕度。最后通過高速示波器對電路的測試驗(yàn)證了仿真方法
標(biāo)簽： 通信 差分電路設(shè)計(jì)
上傳時(shí)間： 2022-06-18
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以太網(wǎng)供電（POE）概述POE（Power Over Ethernet）指的是在現(xiàn)有的以太網(wǎng) Cat.5布線基礎(chǔ)架構(gòu)不作做何改動(dòng)的情況下，在為一些基于IP的終端（如IP電話機(jī)、無線局域網(wǎng)接入點(diǎn)AP、網(wǎng)絡(luò)攝像機(jī)等）傳輸數(shù)據(jù)信號(hào)的同時(shí)，還能為此類設(shè)備提供直流供電的技術(shù)。POE技術(shù)能在確保現(xiàn)有結(jié)構(gòu)化布線安全的同時(shí)保證現(xiàn)有網(wǎng)絡(luò)的正常運(yùn)作，最大限度地降低成本。POE也被稱為基于局域網(wǎng)的供電系統(tǒng)（POL，Power overLAN）或有源以太網(wǎng)（Active Ethernet），有時(shí)也被簡稱為以太網(wǎng)供電，這是利用現(xiàn)存標(biāo)準(zhǔn)以太網(wǎng)傳輸電纜的同時(shí)傳送數(shù)據(jù)和電功率的最新標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，并保持了與現(xiàn)存以太網(wǎng)系統(tǒng)和用戶的兼容性。IEEE802.3af標(biāo)準(zhǔn)是基于以太網(wǎng)供電系統(tǒng)POE的新標(biāo)準(zhǔn)，它在IEEE802.3的基礎(chǔ)上增加了通過網(wǎng)線直接供電的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，是現(xiàn)有以太網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)的擴(kuò)展，也是第一個(gè)關(guān)于電源分配的國際標(biāo)準(zhǔn)。IEEE在1999年開始制定該標(biāo)準(zhǔn)，最早參與的廠商有3Com，Intel，PowerDsine，Nortel，Mitel和National Semiconductor。但是，該標(biāo)準(zhǔn)的缺點(diǎn)一直制約著市場的擴(kuò)大。直到2003年6月，IEEE批準(zhǔn)了802.3af標(biāo)準(zhǔn)，它明確規(guī)定了遠(yuǎn)程系統(tǒng)中的電力檢測和控制事項(xiàng)，并對路由器、交換機(jī)和集線器通過以太網(wǎng)電纜向IP電話、安全系統(tǒng)以及無線LAN接入點(diǎn)等設(shè)備供電的方式進(jìn)行了規(guī)定。IEEE802.3af的發(fā)展包含了許多公司專家的努力，這也使得該標(biāo)準(zhǔn)可以在各方面得到檢驗(yàn)。
標(biāo)簽： POE
上傳時(shí)間： 2022-06-25
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主要內(nèi)容一、物聯(lián)網(wǎng)概念的提出與演進(jìn)二、世界主要國家/地區(qū)物聯(lián)網(wǎng)發(fā)展概況三、物聯(lián)網(wǎng)中的關(guān)鍵問題與典型案例四、物聯(lián)網(wǎng)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展概況五、RFID與嵌入式系統(tǒng)物聯(lián)網(wǎng)概念的提出與演進(jìn)1999年，EPC global前身麻省理工Auto-ID中心提出"Internet of Things"的構(gòu)想：物品上裝置的電子標(biāo)簽存儲(chǔ)唯一的EPC碼，利用RFID技術(shù)完成標(biāo)簽數(shù)據(jù)的自動(dòng)采集，通過與互聯(lián)網(wǎng)相連的EPC IS服務(wù)器提供對應(yīng)該EPC的物品信息-物品信息互聯(lián)網(wǎng)絡(luò)2005年，國際電信聯(lián)盟（ITU）發(fā)布名為《Internet of Things》的技術(shù)報(bào)告：“物聯(lián)網(wǎng)”是信息和通信技術(shù)（ICTs）中的新維度from anytime，any place connectivity for anyone，we will now have connectivity for anything RFID技術(shù)、傳感器技術(shù)和嵌入式智能技術(shù)是物聯(lián)網(wǎng)的基礎(chǔ)使能性技術(shù)2008年，IBM提出“智慧的地球：Smart Planet"首先，各種創(chuàng)新的感應(yīng)科技被嵌入各種物體和設(shè)施中，令物質(zhì)世界被極大程度的數(shù)據(jù)化第二，隨著網(wǎng)絡(luò)的高度發(fā)達(dá)，人、數(shù)據(jù)和各種事物都將以不同方式聯(lián)入網(wǎng)絡(luò)第三，先進(jìn)的技術(shù)和超級(jí)計(jì)算機(jī)則可以對這些堆積如山的數(shù)據(jù)進(jìn)行整理、加工和分析，將生硬的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化成實(shí)實(shí)在在的洞察，并幫助人們做出正確的行動(dòng)決策
標(biāo)簽： 物聯(lián)網(wǎng) RFID
上傳時(shí)間： 2022-06-26
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本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC61000-4-5；1995《電磁兼容第4部分：試驗(yàn)和測量技術(shù)第5分部分：浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)》。本標(biāo)準(zhǔn)是《電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)》系列國家標(biāo)準(zhǔn)的之一，該系列標(biāo)準(zhǔn)包括以下標(biāo)準(zhǔn)：GB/T17626.1-1998電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)抗擾度試驗(yàn)總論GB/T17626.2-1998電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.3-1998電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.4-1998電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)GB/T 17626.5-1999電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.6-1998電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度GB/T17626.7-1998電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測量和測量儀器導(dǎo)則GB/T17626.8-1998電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.9-1998電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)脈沖磁場抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.10-1998電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.11-1999電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓漸變抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.12-1998電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)振蕩波抗擾度試驗(yàn)本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄B是提示的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化聯(lián)合工作組歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所、機(jī)械工業(yè)部廣州電器科學(xué)研究所、電力工業(yè)部武漢高壓研究所等。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：陳世鋼、王素英、姚帶月、聶定珍、文芳。
標(biāo)簽： 電磁兼容
上傳時(shí)間： 2022-06-29
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《C語言參考手冊(原書第5版)》是一本C語言的權(quán)威參考手冊，對C語言的基本概念和運(yùn)行函數(shù)庫提供了完整的描述，并強(qiáng)調(diào)了以正確性、可移性和可維護(hù)性為基本出發(fā)點(diǎn)的良好編程風(fēng)格。《C語言參考手冊(原書第5版)》對C語言描述比其他任何書籍都要更加清晰和詳細(xì)。《C語言參考手冊(原書第5版)》涵蓋的內(nèi)容包括：標(biāo)準(zhǔn)C（1999）：新版本的C標(biāo)準(zhǔn)支持復(fù)數(shù)型和布爾類型、可變長度數(shù)組、精確浮點(diǎn)編程以及為可移植性國際化所提供的新函數(shù)庫。標(biāo)準(zhǔn)C（1989）：當(dāng)今大部分C程序員所使用的C語言版本。傳統(tǒng)C：1990年以前人們所使用的C語言。目前仍有數(shù)以百萬行計(jì)的傳統(tǒng)C代碼還在使用中。C++和C的兼容：可以同時(shí)用于C和C++的代碼。適用于所有C語言版本的C運(yùn)行時(shí)函數(shù)庫。《C語言參考手冊(原書第5版)》對C的所有細(xì)節(jié)都進(jìn)行了描述，是C語言編程人員和編譯器實(shí)現(xiàn)者必備的參考手冊。
標(biāo)簽： C語言
上傳時(shí)間： 2022-07-07
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本書篩選了1999年以后國內(nèi)幾十種期刊刊中有關(guān)無線數(shù)據(jù)通信、無線發(fā)送、接收IC芯片通信技術(shù)、紅外遙控及數(shù)據(jù)通信枝術(shù)、藍(lán)牙芯片及無線收發(fā)通信技術(shù)等方面的113篇文章，均屬新器件、新技術(shù)、技術(shù)透明度較高的文章。
標(biāo)簽： 無線發(fā)送 接收ic 芯片 數(shù)據(jù)通信
上傳時(shí)間： 2022-07-16
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1920年Lakhovsky提出活細(xì)胞是一個(gè)完整電路，以固有的頻率振動(dòng)，發(fā)射和接收電磁波的理論，引起了醫(yī)學(xué)界極大的興趣。近20年來，射頻(radiofrequency，RF)技術(shù)在醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中得到了飛速的發(fā)展。隨著研究的不斷深入，各種電磁波治療儀大量出現(xiàn)，如射頻消融、射頻外科手術(shù)儀等。1999年3月美國FDA批準(zhǔn)了射頻技術(shù)用于美容，并迅速普及。目前射頻技術(shù)在皮膚科、婦科、美容化妝外科手術(shù)、肝腫瘤微創(chuàng)治療和血管疾病治療等領(lǐng)域的應(yīng)用在世界上已占有一席之地。為了使讀者清楚地了解其在皮膚美容科的工作原理、應(yīng)用范圍及其效果，筆者就近期相關(guān)文獻(xiàn)報(bào)道作一綜述。
標(biāo)簽： 射頻
上傳時(shí)間： 2022-07-17
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C語言是國內(nèi)外廣泛使用的計(jì)算機(jī)語言，學(xué)會(huì)使用C語言進(jìn)行程序設(shè)計(jì)是計(jì)算機(jī)工作者的一項(xiàng)基本功。本書的第一版于1991年出版，第二版于1999年出版。由于本書作者具有豐富的教學(xué)經(jīng)驗(yàn)和編寫教材的經(jīng)驗(yàn)，并針對初學(xué)者的特點(diǎn)，精心策劃、準(zhǔn)確定位，使得本書概念清晰、例題豐富、深入淺出，受到專家和讀者的一致好評(píng)。本書被普遍認(rèn)為是學(xué)習(xí)C語言的好教材，并被全國大多數(shù)高校選用。十多年來本書累計(jì)發(fā)行了800多萬冊，創(chuàng)同類書的全國最高記錄，是學(xué)習(xí)C語言的主流用書。本書曾榮獲原電子工業(yè)部優(yōu)秀教材一等獎(jiǎng)、高校出版社優(yōu)秀暢銷書特等獎(jiǎng)、全國高等院校計(jì)算機(jī)基礎(chǔ)教育研究會(huì)優(yōu)秀教材一等獎(jiǎng)。根據(jù)發(fā)展的需要，作者對本書進(jìn)行了再修訂，使本書更加完善，更便于學(xué)習(xí)。書中全部例題中的程序均已調(diào)試通過。本書內(nèi)容新穎、體系合理、邏輯性強(qiáng)、文字流暢、通俗易懂，是學(xué)習(xí)C語言的理想教材。凡具有計(jì)算機(jī)初級(jí)知識(shí)的讀者都能讀懂本書。本書可作為高等學(xué)校各專業(yè)的正式教材，也是一本自學(xué)的好教材。另外本書還配有輔助教材《C程序設(shè)計(jì)題解與上機(jī)指導(dǎo)（第三版）》。
標(biāo)簽： C程序設(shè)計(jì)
上傳時(shí)間： 2022-07-17
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安全及一般信息安全和有效操作的重要信息。在使用您的雙向?qū)χv機(jī)之前.請閱讀下列信息。本文提供的信息是取代2001年6月份前出版的用戶手冊，其中有關(guān)一般安全信息的內(nèi)容。對于在危險(xiǎn)環(huán)境范圍里使用對講機(jī)的安全信息，請參閱廠際公約許可手冊補(bǔ)充或指示卡，該信息包含在提供這些性能的對講機(jī)型號(hào)中。對講機(jī)射頻能量的操作按下通話鍵傳輸信息（講話）：釋放通話鍵接收信息（接聽）。當(dāng)對講機(jī)傳輸信息時(shí)，將產(chǎn)生對講機(jī)射頻能量：當(dāng)對講機(jī)接收信息時(shí)或關(guān)機(jī)時(shí)，不會(huì)產(chǎn)生對講機(jī)射頻能量。對講機(jī)的操作及電磁能量的暴露您的摩托羅拉對講機(jī)在設(shè)計(jì)過程中嚴(yán)格遵照了下列國家和國際的標(biāo)準(zhǔn)和原則。這些標(biāo)準(zhǔn)和原則用以保護(hù)暴露在射頻電磁能量下工作人員的人身安全：丁·美國聯(lián)邦通信委員會(huì)，聯(lián)邦管理?xiàng)l例；47CFR第2部分的J部分·美國國家標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)（ANSD/電器和電子工程師協(xié)會(huì)（IEEE）C95.1-1992·電器和電子工程師協(xié)會(huì)（IEEE）C95.1-1999版·美國國家輻射保護(hù)和測量委員會(huì)（NCRP）報(bào)告86，1986·國際非電離輻射保護(hù)委員（ICNIRP）1998·加拿大衛(wèi)生部安全條例6：人體暴露在頻率范圍從3kHz到300GHz的對講機(jī)頻率電磁場中的限制.1999·澳大利亞通信特許對講機(jī)通信（電磁輻射·暴露于人體）標(biāo)準(zhǔn)1999（僅適用于無線電話）·巴西國家電信管理局（ANATEL）“此設(shè)備符合ANATEL針對電場.磁場和電磁場暴露所采用的特定吸收能量比率的限制。
上傳時(shí)間： 2022-07-24
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資源包含以下內(nèi)容：1.GBT2423.07-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)ec和導(dǎo)則傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品).pdf2.GBT2423.08-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)ed自由跌落.pdf3.GBT2423.09-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)cb設(shè)備用恒定濕熱.pdf4.GBT2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fc和導(dǎo)則振動(dòng)(正弦).pdf5.GBT2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fd寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--一般要求 .pdf6.GBT2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fda寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--高再現(xiàn)性.pdf7.GBT2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fdb寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)中再現(xiàn)性.pdf8.GBT2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fdc寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)低再現(xiàn)性.pdf9.GBT2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)ga和導(dǎo)則穩(wěn)態(tài)加速度.pdf10.GBT2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)j和導(dǎo)則長霉.pdf11.GBT2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)ka 鹽霧試驗(yàn)方法.pdf12.GBT2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分 試驗(yàn)--試驗(yàn)kb 鹽霧,交變(氯化鈉溶液).pdf13.GBT2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)kc 接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法.pdf14.GBT2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)kd 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法.pdf15.GBT2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)m 低氣壓試驗(yàn)方法.pdf16.GBT2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)n 溫度變化.pdf17.GBT2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)q 密封.pdf18.GBT2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)sa 模擬地面上的太陽輻射.pdf19.GBT2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zam 低溫低氣壓綜合試驗(yàn).pdf20.GBT2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zbm 高溫低氣壓綜合試驗(yàn).pdf21.GBT2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zamd 低溫低氣壓濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法.pdf22.GBT2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)t 錫焊試驗(yàn)方法.pdf23.GBT2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)u 引出端及整體安裝件強(qiáng)度.pdf24.GBT2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)xa 和導(dǎo)則在清洗劑中浸漬.pdf25.GBT2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)方法.pdf26.GBT2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗(yàn)方法.pdf27.GBT2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)kca 高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法.pdf28.GBT2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zad 溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法.pdf29.GBT2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zafc 散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法.pdf30.GBT2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)zbfc 散熱和非散熱樣品的高溫振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法.pdf31.GBT2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)l砂塵試驗(yàn)方法.pdf32.GBT2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)r 水試驗(yàn)方法.pdf33.GBT2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)ee 彈跳試驗(yàn)方法.pdf34.GBT2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)cx 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱.pdf35.GBT2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程風(fēng)壓試驗(yàn)方法.pdf36.GBT2423.42-1995 工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)低溫低氣壓振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法.pdf37.GBT2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分 試驗(yàn)方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊,碰撞,振動(dòng),和穩(wěn)態(tài)加速度,等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則.pdf38.GBT2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)eg 撞擊彈簧錘.pdf39.GBT2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)zabdm：氣候順序.pdf40.GBT2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)ef：撞擊擺錘.pdf41.GBT2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fg 聲振.pdf42.GBT2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)ff 振動(dòng)--時(shí)間歷程法.pdf43.GBT2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)fe 振動(dòng)--正弦拍頻法.pdf44.GBT2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)cy 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn).pdf45.GBT2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)ke 流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn).pdf46.電子產(chǎn)品老化相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)資料
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