基于單片機的AFM納米機械性能測試系統
摘要：為解決采用原子力顯微鏡（ＡＦＭ）系統進行納米機械性能測試中存在的不能夠直接獲得載荷?壓深曲線以及不能夠隨意改變加載、保載、卸載時間等問題，對ＡＦＭ系統進行了改造，開發了一套基于單片機的信號輸入輸...
AFM技術資料
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eeworm.com VIP專區 單片機源碼系列 59資源包含以下內容：1. MSP430系列單片機培訓班.pdf2. MSP430單片機通用系統研制和應用.pdf3. 基于單片機的防火漏電保護器設計...