lpc2210開發板電路圖
上傳時間： 2014-12-28
上傳用戶：luopoguixiong
S3C2440開發板使用手冊:在陽初2440 開發板上，我們使用了mizi 公司開發的開放源代碼啟動程序vivi 來作為bootloader，在原有vivi的基礎上，我們增加了VGA/TV芯片初始化等功能。vivi我們使用來下載Linux 的映象，將來會擴展到支持下載WindowsCE 的映象。經陽初改進后，vivi的基本功能－ 啟動操作系統－ 通過xmodem協議下載映象文件－ 通過USB DEVICE 接口下載映象文件（開發中，暫不提供）－ 通過網絡接口下載映象文件（開發中，暫不提供）－ 設置操作系統啟動參數－ 初始化硬件
上傳時間： 2013-12-20
上傳用戶：xiaohanhaowei
800A全自動STC單片機實驗開發板軟硬件說明:① 將下載編程通信線的DB9串行通信RS232插頭，插入PC機的RS232串行通信座，用以實現對STC單片機下載編程的通信。② 將下載編程通信線的USB插頭（與DB9串行通信RS232插頭線較短的一端，注意別搞錯，否則不能工作），插入PC機的USB通信座，用以實現對全自動STC單片機實驗開發板的供電。③ 將下載編程通信線的USB插頭（與DB9串行通信RS232插頭線較長的一端，注意別搞錯，否則不能工作），插入全自動STC單片機實驗開發板上的USB座，以實現對其下載編程的通信和供電。3. 所需軟件① 各類文本編輯器軟件，如Eidt,記事本等，編輯匯編語言源程序*.ASM；② 集成環境WAVE6000軟件：將匯編語言源程序編譯成*.hex文件（也可直接在此環境下編輯匯編語言源程序*.ASM）；③ 官方提供的STC-ISP軟件(http//www.MCU-Memory.com)：將匯編語言源程序編譯成的*.hex文件在線下載到STC單片機中。4. 使用說明4.1 WAVE6000軟件使用說明① 在“WAVE6000”目錄中的“BIN”子目錄下,雙擊右圖偉福標志執行偉福軟件，若跳出“檢查電源……”的對話框，點擊“取消”，跳出如下畫面（下圖僅左上部分）。
上傳時間： 2013-11-10
上傳用戶：zuozuo1215
對于初學者來說，還有些不直觀，調試過程中看到的是一些數值，并沒有看到這些數值所引起的外圍電路的變化，例如數碼管點亮、發光管發光等。為了讓初學者更好地入門，筆者利用Keil 提供的AGSI 接口開發了兩塊仿真實驗板。這兩塊仿真板將枯燥無味的數字用形象的圖形表達出來，可以使初學者在沒有硬件時就能感受到真實的學習環境，降低單片機的入門門檻。圖1 是鍵盤、LED 顯示實驗仿真板的圖，從圖中可以看出，該板比較簡單，有在P1 口接有8 個發光二極管，在P3 口接有4 個按鈕，圖的右邊給出了原理圖。圖2 是另一個較為復雜的實驗仿真板。在該板上有8 個數碼管，16 個按鍵（接成4＊4 的矩陣式），另外還有P1 口接的8個發光管，兩個外部中斷按鈕，一個帶有計數器的脈沖發生器等資源，顯然，這塊板可以完成更多的實驗。
上傳時間： 2013-10-18
上傳用戶：nanshan
在現代電子設計中EMI是一個主要的問題。為抗干擾，設計者要么除掉干擾源，要么保護受影響的電路，最終的目的都是為了達到電磁兼容的目的。僅僅達到電磁兼容也許還不夠。 雖然電路工作在板級， 但它有可能對系統的其他部件輻射噪音、干擾，從而引起系統級的問題。 此外，系統級或者設備級的EMC不得不滿足某些輻射標準，以便不影響其他設備。
上傳時間： 2013-11-04
上傳用戶：xingyuewubian
帶鍵盤掃描和LED/LCD驅動顯示板電路設計
上傳時間： 2013-11-24
上傳用戶：liaocs77
通用單片機試驗板原理圖
上傳時間： 2014-04-03
上傳用戶：com1com2
P C B 可測性設計布線規則之建議― ― 從源頭改善可測率PCB 設計除需考慮功能性與安全性等要求外，亦需考慮可生產與可測試。這里提供可測性設計建議供設計布線工程師參考。1. 每一個銅箔電路支點，至少需要一個可測試點。如無對應的測試點，將可導致與之相關的開短路不可檢出，并且與之相連的零件會因無測試點而不可測。2. 雙面治具會增加制作成本，且上針板的測試針定位準確度差。所以Layout 時應通過Via Hole 盡可能將測試點放置于同一面。這樣就只要做單面治具即可。3. 測試選點優先級：A.測墊(Test Pad) B.通孔(Through Hole) C.零件腳(Component Lead) D.貫穿孔(Via Hole)(未Mask)。而對于零件腳，應以AI 零件腳及其它較細較短腳為優先，較粗或較長的引腳接觸性誤判多。4. PCB 厚度至少要62mil(1.35mm)，厚度少于此值之PCB 容易板彎變形，影響測點精準度，制作治具需特殊處理。5. 避免將測點置于SMT 之PAD 上，因SMT 零件會偏移，故不可靠，且易傷及零件。6. 避免使用過長零件腳(>170mil(4.3mm))或過大的孔(直徑>1.5mm)為測點。7. 對于電池(Battery)最好預留Jumper，在ICT 測試時能有效隔離電池的影響。8. 定位孔要求：(a) 定位孔(Tooling Hole)直徑最好為125mil(3.175mm)及其以上。(b) 每一片PCB 須有2 個定位孔和一個防呆孔(也可說成定位孔,用以預防將PCB反放而導致機器壓破板)，且孔內不能沾錫。(c) 選擇以對角線，距離最遠之2 孔為定位孔。(d) 各定位孔(含防呆孔)不應設計成中心對稱,即PCB 旋轉180 度角后仍能放入PCB,這樣,作業員易于反放而致機器壓破板)9. 測試點要求：(e) 兩測點或測點與預鉆孔之中心距不得小于50mil(1.27mm)，否則有一測點無法植針。以大于100mil(2.54mm)為佳，其次是75mil(1.905mm)。(f) 測點應離其附近零件(位于同一面者)至少100mil，如為高于3mm 零件，則應至少間距120mil，方便治具制作。(g) 測點應平均分布于PCB 表面，避免局部密度過高，影響治具測試時測試針壓力平衡。(h) 測點直徑最好能不小于35mil(0.9mm)，如在上針板，則最好不小于40mil(1.00mm)，圓形、正方形均可。小于0.030”(30mil)之測點需額外加工，以導正目標。(i) 測點的Pad 及Via 不應有防焊漆(Solder Mask)。(j) 測點應離板邊或折邊至少100mil。(k) 錫點被實踐證實是最好的測試探針接觸點。因為錫的氧化物較輕且容易刺穿。以錫點作測試點，因接觸不良導致誤判的機會極少且可延長探針使用壽命。錫點尤其以PCB 光板制作時的噴錫點最佳。PCB 裸銅測點，高溫后已氧化，且其硬度高，所以探針接觸電阻變化而致測試誤判率很高。如果裸銅測點在SMT 時加上錫膏再經回流焊固化為錫點，雖可大幅改善，但因助焊劑或吃錫不完全的緣故，仍會出現較多的接觸誤判。
上傳時間： 2014-01-14
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《現代微機原理與接口技術》實驗指導書 TPC-H實驗臺C語言版 1.實驗臺結構1）I / O 地址譯碼電路如上圖1所示地址空間280H～2BFH共分8條譯碼輸出線：Y0～Y7 其地址分別是280H～287H、288H～28FH、290H～297H、298H～29FH、2A0H～2A7H、2A8H～2AFH、2B0H～2B7H、2B8H～2BFH，8根譯碼輸出線在實驗臺I/O地址處分別由自鎖緊插孔引出供實驗選用（見圖2）。 2) 總線插孔采用“自鎖緊”插座在標有“總線”區引出數據總線D7～D0；地址總線A9～A0，讀、寫信號IOR、IOW；中斷請求信號IRQ ；DMA請求信號DRQ1；DMA響應信號DACK1 及AEN信號，供學生搭試各種接口實驗電路使用。3) 時鐘電路如圖-3所示可以輸出1MHZ 2MHZ兩種信號供A/D轉換器定時器/計數器串行接口實驗使用。圖34) 邏輯電平開關電路如圖-4所示實驗臺右下方設有8個開關K7～K0，開關撥到“1”位置時開關斷開，輸出高電平。向下打到“0”位置時開關接通，輸出低電平。電路中串接了保護電阻使接口電路不直接同＋5V 、GND相連，可有效地防止因誤操作誤編程損壞集成電路現象。圖 4 圖 55) L E D 顯示電路如圖-5所示實驗臺上設有8個發光二極管及相關驅動電路（輸入端L7～L0），當輸入信號為“1” 時發光，為“0”時滅6) 七段數碼管顯示電路如圖-6所示實驗臺上設有兩個共陰極七段數碼管及驅動電路，段碼為同相驅動器，位碼為反相驅動器。從段碼與位碼的驅動器輸入端（段碼輸入端a、b、c、d、e、f、g、dp，位碼輸入端s1、 s2）輸入不同的代碼即可顯示不同數字或符號。
上傳時間： 2013-11-22
上傳用戶：sssnaxie
51單片機試驗板電路圖
上傳時間： 2013-11-04
上傳用戶：天空說我在
