隨著嵌入式系統的發展、嵌入式應用的不斷增長以及嵌入式系統復雜性不斷提高，嵌入式軟件的規模和復雜性也不斷提高。在目前的嵌入式系統開發中間，軟件開發占80％以上的工作量，嵌入式軟件的質量和開發周期對產品的最終質量和上市時間起到決定性的影響。因此，為了保持產品競爭力，支持用戶對嵌入式設備進行快速、高效的軟件開發，嵌入式的開發人員迫切需要更加強大的調試技術和手段來為開發復雜的嵌入式應用提供幫助；同時，強有力的嵌入式軟件開發工具也是基本的必備條件。 本文結合ARM公司RVDS集成開發環境中調試模塊組成部分Event Viewer系統的開發，實現了對通過原始數據源采集到的CoreSight跟蹤數據的完整實時解析，并最終在顯示模塊中將其包含的信息以可視化的形式直觀地展現給用戶，以供后續的程序性能分析和嵌入式軟件系統調試。研究了與本課題相關的一些技術，包括CoreSight調試體系結構、嵌入式常見調試技術、Eclipse平臺體系架構及其插件擴展點技術。在研究嵌入式集成開發環境國內外現狀及其發展趨勢的基礎上，結合Event Viewer系統的整體需求，介紹了系統的總體設計及其功能模塊劃分，并給出了系統的第三方擴展設計。討論了系統解析模塊的設計與實現。在分析CoreSight跟蹤數據解析流程的基礎上，對系統中解析模塊進行了詳細設計，并完成了基于ITM數據流的解析實現。結合系統的功能需求和解析模塊的設計，本文利用Eclipse插件擴展點機制，劃分解析模塊提供對外擴展，實現了系統向第三方產品提供商提供擴展接口的功能，第三方可以在此基礎上提供自己的解析處理。利用Eclipse View擴展點和SWT/JFace技術，實現了對跟蹤數據的前臺展示，包括Text、Event、Analog三種類型；本文著重討論了Analog展示部分的詳細設計和實現，將解析后得到的Analog數據信息以實時曲線圖的形式展現給客戶，提供對Analog數據變化趨勢的直觀描述。
標簽：
ARMCoreSight
調試技術
上傳時間：
2013-04-24
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