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GSMGPRSRFORUM相關(guān)信息測試與結(jié)過
標(biāo)簽： GSMGPRSRFORUM
上傳時間： 2015-05-20
上傳用戶：jqy_china
內(nèi)含fulladder結(jié)構(gòu)檔,電路檔,測試檔(testbench)以及執(zhí)行檔(.do)
標(biāo)簽： fulladder testbench do
上傳時間： 2016-11-25
上傳用戶：wxhwjf
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
PC電源測試系統(tǒng)chroma8000簡介
標(biāo)簽： chroma 8000 電源測試系統(tǒng)
上傳時間： 2013-11-08
上傳用戶：xiehao13
此為philip 1362 USB DOS下的驅(qū)動程式包, 已經(jīng)共測試並內(nèi)含有說明文件
標(biāo)簽： philip 1362 USB DOS
上傳時間： 2015-04-21
上傳用戶：bruce
簡單的串列埠自我測試持式 測試硬體電路是否正確
標(biāo)簽： 正
上傳時間： 2015-04-25
上傳用戶：FreeSky
使用J2ME MIDP2.0實(shí)做AODV協(xié)定(RFC3561),測試平臺為兩種PDA:PalmOS和PacketPC2003
標(biāo)簽： PacketPC PalmOS J2ME AODV
上傳時間： 2014-09-03
上傳用戶：shawvi
這是一篇介紹藍(lán)芽收發(fā)器IC測試的相關(guān)文章,蠻有用的文章
標(biāo)簽：
上傳時間： 2013-12-14
上傳用戶：asdkin
SSL測試技朮說明文檔﹐解決SSL測試相關(guān)問題﹐英文。
標(biāo)簽： SSL 英文
上傳時間： 2013-12-09
上傳用戶：894898248
FTDI FT2232C 應(yīng)用程式與測試程式
標(biāo)簽： 2232C FTDI 2232 程式
上傳時間： 2015-07-08
上傳用戶：waizhang
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