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ESD - Failure Mechanisms and Models

  • 資源大小:13920 K
  • 上傳時間: 2020-06-05
  • 上傳用戶:shancjb
  • 資源積分:2 下載積分
  • 標(biāo)      簽: Mechanisms Failure Models ESD and

資 源 簡 介

Failure analysis is invaluable in the learning process of electrostatic discharge (ESD) and
electrical overstress (EOS) protection design and development [1–8]. In the failure analysis
of EOS, ESD, and latchup events, there are a number of unique failure analysis processes
andinformationthatcanprovidesignificantunderstandingandillumination[4].Today,thereis
still no design methodology or computer-aided design (CAD) tool which will predict EOS,
ESDprotectionlevels,andlatchupinasemiconductorchip;thisisoneofthesignificantreasons
why failure analysis is critical to the ESD design discipline.

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