IEEE 1149 標(biāo)準(zhǔn) JTAG 原文
資源簡介:IEEE 1149 標(biāo)準(zhǔn) JTAG 原文
上傳時間: 2014-12-01
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資源簡介:IEEE 1149標(biāo)準(zhǔn) JTAG,好東東,藏了多年了,
上傳時間: 2015-06-29
上傳用戶:wanqunsheng
資源簡介:JTAG Tools is a software package which enables working with JTAG-aware (IEEE 1149.1) hardware devices (parts) and boards through JTAG adapter.
上傳時間: 2016-10-20
上傳用戶:520
資源簡介:這是有關(guān)IEEE 802標(biāo)準(zhǔn)的官方文檔,E文的,喜歡的朋友可以來下載!
上傳時間: 2014-12-04
上傳用戶:linlin
資源簡介:功能強大的開源加密軟件。使用最新IEEE-p1619標(biāo)準(zhǔn),最新版本。
上傳時間: 2016-04-22
上傳用戶:zxc23456789
資源簡介:IEEE1179標(biāo)準(zhǔn)JTAG的開發(fā)資料用于JTAG仿真器開發(fā)
上傳時間: 2017-01-26
上傳用戶:liglechongchong
資源簡介:這是一個118節(jié)點的IEEE-118標(biāo)準(zhǔn)測試系統(tǒng)后感數(shù)據(jù)代碼
上傳時間: 2017-05-21
上傳用戶:氣溫達上千萬的
資源簡介:這是一個57節(jié)點的IEEE-57標(biāo)準(zhǔn)測試系統(tǒng)后感數(shù)據(jù)代碼
上傳時間: 2013-12-01
上傳用戶:tianyi223
資源簡介:這是一個39節(jié)點的IEEE-39標(biāo)準(zhǔn)測試系統(tǒng)后感數(shù)據(jù)代碼
上傳時間: 2014-01-01
上傳用戶:huyiming139
資源簡介:這是一個30節(jié)點的IEEE-30標(biāo)準(zhǔn)測試系統(tǒng)后感數(shù)據(jù)代碼
上傳時間: 2013-12-20
上傳用戶:playboys0
資源簡介:邊界掃描技術(shù)是一種應(yīng)用于數(shù)字集成電路器件的標(biāo)準(zhǔn)化可測試性設(shè)計方法,它提供了對電路板上元件的功能、互連及相互間影響進行測試的一種新方案,極大地方便了系統(tǒng)電路的測試。本文基于IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)剖析了JTAG邊界掃描測試的精髓,分析了其組成,功能與時序...
上傳時間: 2013-04-24
上傳用戶:372825274
資源簡介:JTAG(Joint Test Action Group;聯(lián)合測試行動小組)是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議(IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片內(nèi)部測試。
上傳時間: 2013-04-24
上傳用戶:amwfhv
資源簡介:AVR JTAG是與Atmel公司的AVR Studio相配合的一套完整的基于JTAG接口的片上調(diào)試工具,支持所有AVR的8位RISC指令的帶JTAG口的微處理器。JTAG接口是一個4線的符合IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)的測試接入端口(TAP)控制器。IEEE的標(biāo)準(zhǔn)提供一種行之有效的電路板連接性測試的標(biāo)準(zhǔn)...
上傳時間: 2013-12-26
上傳用戶:wweqas
資源簡介:什么是JTAG 到底什么是JTAG呢? JTAG(Joint Test Action Group)聯(lián)合測試行動小組)是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議(IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片內(nèi)部測試。現(xiàn)在多數(shù)的高級器件都支持JTAG協(xié)議,如DSP、FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線:TMS、 TCK、TDI、TDO,分別...
上傳時間: 2013-10-23
上傳用戶:aeiouetla
資源簡介:高性能、低功耗的8 位AVR® 微處理器 • 先進的RISC 結(jié)構(gòu),JTAG 接口( 與IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)兼容)
上傳時間: 2013-12-29
上傳用戶:星仔
資源簡介:OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎(chǔ)上,結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Acces...
上傳時間: 2016-08-16
上傳用戶:sssl
資源簡介:This application note provides users with a general understanding of the SVF and XSVF fileformats as they apply to Xilinx devices. Some familiarity with IEEE STD 1149.1 (JTAG) isassumed. For information on using Serial Vector Format (SVF) a...
上傳時間: 2013-10-21
上傳用戶:tiantwo
資源簡介:This application note provides users with a general understanding of the SVF and XSVF fileformats as they apply to Xilinx devices. Some familiarity with IEEE STD 1149.1 (JTAG) isassumed. For information on using Serial Vector Format (SVF) a...
上傳時間: 2015-01-02
上傳用戶:時代將軍
資源簡介:IEEE文件格式寫法,幫助你去改稿,符合IEEE文件標(biāo)準(zhǔn)。給菜鳥看的,大蝦可飄過。
上傳時間: 2016-10-27
上傳用戶:s363994250
資源簡介:網(wǎng)絡(luò)中基于IEEE 1588,由多個節(jié)點和多元化的連接,每個連接連接至少兩個節(jié)點允許節(jié)點之間的通信,包括根據(jù)網(wǎng)絡(luò)協(xié)議的消息交換,IEEE 1588的同步提高,允許多個主時鐘系統(tǒng)中同時操作。為此,根據(jù)IEEE 1588標(biāo)準(zhǔn),許多節(jié)點組成一個實現(xiàn)高可用性主時鐘的子系統(tǒng)。
上傳時間: 2019-04-25
上傳用戶:AoBa77
資源簡介:可測試性設(shè)計(Design-For-Testability,DFT)已經(jīng)成為芯片設(shè)計中不可或缺的重要組成部分。它通過在芯片的邏輯設(shè)計中加入測試邏輯提高芯片的可測試性。在高性能通用 CPU 的設(shè)計中,可測試性設(shè)計技術(shù)得到了廣泛的應(yīng)用。本文結(jié)合幾款流行的 CPU,綜述了可應(yīng)用于...
上傳時間: 2021-10-15
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資源簡介:隨著電力電子技術(shù)的發(fā)展,交流電源系統(tǒng)的電能質(zhì)量問題受到越來越多的關(guān)注。傳統(tǒng)的整流環(huán)節(jié)廣泛采用二極管不控整流和晶閘管相控整流電路,向電網(wǎng)注入了大量的諧波及無功,造成了嚴(yán)重的污染。提高電網(wǎng)側(cè)功率因數(shù)以及降低輸入電流諧波成為一個研究熱點。功率因數(shù)...
上傳時間: 2013-06-15
上傳用戶:WS Rye
資源簡介:矩陣運算是描述許多工程問題中不可缺少的數(shù)學(xué)關(guān)系,矩陣運算具有執(zhí)行效率好、速度快、集成度高等優(yōu)點,并且隨著動態(tài)可配置技術(shù)的發(fā)展,靈活性也有了很大的提高。因此,尋找矩陣運算的高速實現(xiàn)方法是具有很大的現(xiàn)實意義,能夠為高速運算應(yīng)用提供技術(shù)支持。 為...
上傳時間: 2013-07-07
上傳用戶:xuanjie
資源簡介:汽車行駛記錄儀是對車輛行駛速度、時間、里程以及有關(guān)車輛行駛的其他狀態(tài)信息進行記錄、存儲并可通過接口實現(xiàn)數(shù)據(jù)輸出的數(shù)字式電子記錄裝置。汽車行駛記錄儀的使用,對遏止疲勞駕駛、車輛超速等交通違章、約束駕駛?cè)藛T的不良駕駛行為、保障車輛行駛安全以及道...
上傳時間: 2013-05-25
上傳用戶:martinyyyl
資源簡介:·書中包括的索引使你能夠根據(jù)自己的需要,直接閱讀你所關(guān)注的內(nèi)容。主要內(nèi)容包括:設(shè)計核心,關(guān)注嵌入核心和嵌入存儲器;系統(tǒng)集成和超大規(guī)模集成電路的設(shè)計問題;AC掃描、正常速度掃描和嵌入式可測試性設(shè)計;內(nèi)建、自測試、含內(nèi)存BIST、邏輯BIST及掃描BIST;...
上傳時間: 2013-04-24
上傳用戶:sjb555
資源簡介:一個支持IEEE-1588 標(biāo)準(zhǔn)的交換機具有邊界時鐘…
上傳時間: 2013-11-12
上傳用戶:weixiao99
資源簡介:多年來,自動測試系統(tǒng)經(jīng)歷了從專用型向通用型、開放性的發(fā)展歷程,ATS作為計算機技術(shù)的一個特定領(lǐng)域,一直都是緊隨計算機技術(shù)的發(fā)展,而如今計算機技術(shù)發(fā)展到互聯(lián)網(wǎng)階段,信息模型的概念為測試領(lǐng)域發(fā)展帶來新的階段,IEEE 1641標(biāo)準(zhǔn)充分解決了ATE的互操作和TPS...
上傳時間: 2013-10-13
上傳用戶:busterman
資源簡介:HLA(高層體系結(jié)構(gòu))是實現(xiàn)分布式仿真系統(tǒng)的核心口作為一種軟件體系結(jié)構(gòu),HLA為仿真應(yīng)用的開發(fā)者提供了構(gòu)造和描述仿真應(yīng)用的通用框架,解決了仿真中的兩大關(guān)鍵問題:一是提高了仿真應(yīng)用之間的互操作性,二是促進了模型在不同領(lǐng)域的重用。 本書以IEEE 1515標(biāo)準(zhǔn)為...
上傳時間: 2022-04-21
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資源簡介:1 產(chǎn)品簡介1.1 產(chǎn)品特點下載速度快,超越 JLINK V8,接近 JLINK V9采用 2.4G 無線通信,自動跳頻支持 1.8V~5V 設(shè)備,自動檢測支持 1.8V/3.3V/5V 電源輸出,上位機設(shè)置支持目標(biāo)板取電/給目標(biāo)板供電支持 MDK/IAR 編譯器,無需驅(qū)動,不丟固件支持 Cortex M0/M1/M...
上傳時間: 2022-06-04
上傳用戶:d1997wayne
資源簡介:1.STM32F103C8T6 最小系統(tǒng)簡介硬件資源:1、STM32F103C8 主芯片一片2、貼片8M 晶振(通過芯片內(nèi)部PLL 最高達72M)ST 官方標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)3、LM1117-3.3V 穩(wěn)壓芯片,最大提供800mA 電流4、一路miniUSB 接口,可以給系統(tǒng)版供電,預(yù)留USB 通訊功能5、復(fù)位按鍵6、標(biāo)準(zhǔn)JTA...
上傳時間: 2022-07-23
上傳用戶:kingwide