基于UEFI的底層API的性能分析及其功能測(cè)試的研究與設(shè)計(jì) - 免費(fèi)下載

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資源簡介

在UEFI開源社區(qū)中,存在四個(gè)與UEFI BIOS相關(guān)的開源項(xiàng)目,分別為EDK(EFI Dev Kit),EDKII,EFI Shell和EFI Toolkit.其中,EDKII(EFI Development Kit)是一個(gè)開源的EFI BIOS的發(fā)布框架,其中包含一系列的開發(fā)示例和大量基本的底層庫函數(shù),因此,對(duì)于其MDE(Module Development Environment)模塊開發(fā)環(huán)境的分析與測(cè)試能夠在最大程度上保證開發(fā)的穩(wěn)定性和質(zhì)量。因而選題具有一定的實(shí)用性和先進(jìn)性,此外,整個(gè)分析和測(cè)試設(shè)計(jì)的過程中,能夠充分體現(xiàn)出在UEFI從事程序設(shè)計(jì)相對(duì)于傳統(tǒng)BIOS環(huán)境下的優(yōu)勢(shì)。

本論文計(jì)劃從以下幾個(gè)方面進(jìn)行研究:1、學(xué)習(xí)研究UEFI(統(tǒng)一可拓展固件接口)

技術(shù);2、學(xué)習(xí)研究EDKII框架和相應(yīng)的MDE(模塊開發(fā)環(huán)境);3、搭建MDE庫的測(cè)試框架MdeTestPkg:4、編寫MdeTestPkg下的測(cè)試實(shí)例,實(shí)現(xiàn)對(duì)MDE庫的分析與測(cè)試。

通過對(duì)現(xiàn)有的UEFT(統(tǒng)一可擴(kuò)展固件按口)技術(shù)的學(xué)習(xí),深入了解UEFI BIOS的背景知識(shí)。在此基礎(chǔ)上,學(xué)習(xí)研究EDK II的整體架構(gòu)和模塊單元開發(fā)設(shè)計(jì)的規(guī)范和方法,并用基于EDK 11搭建MDE(模塊開發(fā)環(huán)境)的測(cè)試框架,編寫類庫的測(cè)試實(shí)例。最終的結(jié)果是完成MDE,即模塊開發(fā)環(huán)境框架中的44個(gè)庫類在DXE階段的功能分析與測(cè)試,并且由于類際的4通性,使得測(cè)試的類際能夠在不同的平臺(tái)架構(gòu)

(如:IA32,X64和IPF等)上成功運(yùn)行,具有很好的穩(wěn)定性和健壯性。在本論文中,我只以NT32平臺(tái)架構(gòu)為例,來說明MDE庫在NT32平臺(tái)下的測(cè)試框架的搭建以及對(duì)于MDE庫類的測(cè)試實(shí)例的設(shè)計(jì),編寫和測(cè)試。


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