電子元器件失效分析與典型案例系統地介紹了電子元器件失效分析技術及典型分析案例。全書分為基礎篇和案例篇。基礎篇闡述電子元器件失效分析的目的和意義、失效分析程序、失效分析技術以及失效分析主要儀器設備與工具；案例篇按照元器件門類分為九章，即集成電路、微波器件、混合集成電路、分立器件、阻容元件、繼電器和連接器、電真空器件、板極電路和其它器件，共計138個失效分析典型案例，各章節突出介紹了該類器件的失效特點、主要失效模式及相關失效機理，提出了預防和控制使用失效發生的必要措施。
本書具有較強的實用性，可供失效分析專業工作者以及元器件和整機研制、生產單位的工程技術人員使用，也可作為高等學校半導體器件專業的教學參考書。
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