數(shù)字存儲(chǔ)器和混合信號(hào)超大規(guī)模集成電路 本書(shū)系統(tǒng)地介紹了數(shù)字、存儲(chǔ)器和混合信號(hào)VLSI系統(tǒng)的測(cè)試和可測(cè)試性設(shè)計(jì)。該書(shū)是根據(jù)作者多年的科研成果和教學(xué)實(shí)踐，結(jié)合國(guó)際上關(guān)注的最新研究熱點(diǎn)并參考大量的文獻(xiàn)撰寫(xiě)的。全書(shū)共分三個(gè)部分。第一部分是測(cè)試基礎(chǔ)，介紹了測(cè)試基本概念、測(cè)試設(shè)備、測(cè)試經(jīng)濟(jì)學(xué)和故障模型。第二部分是測(cè)試方法，詳細(xì)論述了組合和時(shí)序電路的測(cè)試生成、存儲(chǔ)器測(cè)試、基于DSP和基于模塊的模擬與混合信號(hào)測(cè)試、延遲測(cè)試和IDDQ測(cè)試等。第三部分是可測(cè)試性設(shè)計(jì)，包括掃描設(shè)計(jì)、BIST、邊界掃描測(cè)試、模擬測(cè)試總線標(biāo)準(zhǔn)和基于IP芯核的SOC（System on a chip）測(cè)試。

點(diǎn)擊標(biāo)簽查看更多相關(guān)資源：