?? 低功耗測試技術資料

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低功耗測試是現代電子設計中不可或缺的一環，專注于評估和優化電路及系統的能耗表現。通過精準的測量與分析技術，幫助工程師在物聯網設備、可穿戴技術、移動通信等領域實現更長的電池壽命與更高的能效比。掌握低功耗測試方法不僅能夠提升產品競爭力，也是綠色能源發展趨勢下的必然要求。本頁面匯集了16974份精選資源，涵蓋從基礎理論到高級應用的全方位知識體系，助力您成為該領域的專家。

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在集成電路內建自測試的過程中，電路的測試功耗通常顯著高于正常模式產生的功耗，因此低功耗內建自測試技術已成為當前的一個研究熱點。為了減少被測電路內部節點的開關翻轉活動率，研究了一種隨機單輸入跳變（Random Single Input Change，RSIC）測試向量生成器的設計方案，利用VHDL...

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