?? 低功耗測試技術資料

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?? 低功耗測試熱門資料

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在集成電路內建自測試的過程中，電路的測試功耗通常顯著高于正常模式產生的功耗，因此低功耗內建自測試技術已成為當前的一個研究熱點。為了減少被測電路內部節點的開關翻轉活動率，研究了一種隨機單輸入跳變（Random Single Input Change，RSIC）測試向量生成器的設計方案，利用VHDL...

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