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保險(xiǎn)管

  • 5000種場效應(yīng)管速查

    5000種場效應(yīng)管速查

    標簽: 5000 場效應(yīng)管 速查

    上傳時間: 2013-10-27

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  • 1N系列穩(wěn)壓管參數(shù)

    1N系列穩(wěn)壓管參數(shù)

    標簽: 穩(wěn)壓管 參數(shù)

    上傳時間: 2013-10-11

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  • 場效應(yīng)管的h參數(shù)等效模型

    主要介紹場效應(yīng)管H參數(shù)的模型

    標簽: 場效應(yīng)管 h參數(shù) 等效模型

    上傳時間: 2014-01-09

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  • MOS管驅(qū)動電路總結(jié)

    下面是我對MOSFET及MOSFET驅(qū)動電路基礎(chǔ)的一點總結(jié),其中參考了一些資料,非全部原創(chuàng)。包括MOS管的介紹,特性,驅(qū)動以及應(yīng)用電路。

    標簽: MOS 驅(qū)動電路

    上傳時間: 2013-11-18

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  • 采用歸零法的N進制計數(shù)器原理

    計數(shù)器是一種重要的時序邏輯電路,廣泛應(yīng)用于各類數(shù)字系統(tǒng)中。介紹以集成計數(shù)器74LS161和74LS160為基礎(chǔ),用歸零法設(shè)計N進制計數(shù)器的原理與步驟。用此方法設(shè)計了3種36進制計數(shù)器,并用Multisim10軟件進行仿真。計算機仿真結(jié)果表明設(shè)計的計數(shù)器實現(xiàn)了36進制計數(shù)的功能。基于集成計數(shù)器的N進制計數(shù)器設(shè)計方法簡單、可行,運用Multisim 10進行電子電路設(shè)計和仿真具有省時、低成本、高效率的優(yōu)越性。

    標簽: 歸零法 N進制計數(shù)器原

    上傳時間: 2013-10-11

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  • p-n結(jié)的隧道擊穿模型研究

    在理論模型的基礎(chǔ)上探討了電子勢壘的形狀以及勢壘形狀隨外加電壓的變化, 并進行定量計算, 得出隧穿電壓隨雜質(zhì)摻雜濃度的變化規(guī)律。所得結(jié)論與硅、鍺p-n 結(jié)實驗數(shù)據(jù)相吻合, 證明了所建立的理論模型在定量 研究p-n 結(jié)的隧道擊穿中的合理性與實用性。該理論模型對研究一般材料或器件的隧道擊穿具有重要的借鑒意義。

    標簽: p-n 隧道 擊穿 模型研究

    上傳時間: 2013-10-31

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  • 2SJ系列場效應(yīng)管參數(shù)大全

    2SJ系列場效應(yīng)管參數(shù)大全:

    標簽: 2SJ 場效應(yīng)管 參數(shù)大全

    上傳時間: 2013-11-24

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  • 單管放大_從原理圖到PCB

    運用PROTEL DXP 2004設(shè)計的項目“單管放大”視頻教學,完整展現(xiàn)了從原理圖到PCB的過程

    標簽: PCB 單管放大 原理圖

    上傳時間: 2013-11-25

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  • 創(chuàng)建PCB元件管腳封裝

    創(chuàng)建PCB元件管腳封裝

    標簽: PCB 元件 管腳 封裝

    上傳時間: 2014-12-24

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  • 開關(guān)電源中功率MOSFET管損壞模式及分析

    結(jié)合功率MOSFET管不同的失效形態(tài),論述了功率MOSFET管分別在過電流和過電壓條件下?lián)p壞的模式,并說明了產(chǎn)生這樣的損壞形態(tài)的原因,也分析了功率MOSFET管在關(guān)斷及開通過程中發(fā)生失效形態(tài)的差別,從而為失效在關(guān)斷或在開通過程中發(fā)生損壞提供了判斷依據(jù)。給出了測試過電流和過電壓的電路圖。同時分析了功率MOSFET管在動態(tài)老化測試中慢速開通、在電池保護電路應(yīng)用中慢速關(guān)斷及較長時間工作在線性區(qū)時損壞的形態(tài)。最后,結(jié)合實際應(yīng)用,論述了功率MOSFET通常會產(chǎn)生過電流和過電壓二種混合損壞方式損壞機理和過程。

    標簽: MOSFET 開關(guān)電源 功率

    上傳時間: 2013-11-14

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