GB-T 11279-1989 電子元器件環(huán)境試驗(yàn)使用導(dǎo)則
標(biāo)簽： 11279 GB-T 1989 電子元器件
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GB-T 249-1989 半導(dǎo)體分立器件型號(hào)命名方法
標(biāo)簽： GB-T 1989 249 半導(dǎo)體分立器件
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GB-T 3353-1995 人造石英晶體使用指南
標(biāo)簽： GB-T 3353 1995 石英晶體
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GB／T 18135-2000 電氣工程CAD制圖標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)簽： 18135 2000 CAD 電氣工程
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GB-T 12627-1990 軟磁盤驅(qū)動(dòng)器通用技術(shù)條件
標(biāo)簽： 12627 GB-T 1990 軟
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GB／T 2828.1-2003 計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序 第一部分
標(biāo)簽： 2828.1 2003 抽樣 分
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DL T 5161.7-2002 電氣裝置安裝工程質(zhì)量檢驗(yàn)及評(píng)定規(guī)程pdf
標(biāo)簽： 5161.7 2002 DL
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GB-T 11386-1989 信息處理 m 未記錄的硬扇段單面或雙面軟磁盤 尺寸、物理性能和磁性能
標(biāo)簽： 11386 GB-T 1989 信息處理
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GB-T 2689.2-1981 壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的圖估計(jì)法 (用于威布爾分布)
標(biāo)簽： 2689.2 GB-T 1981 壽命
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GB-T 2689.4-1981 命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的最好線性無(wú)偏估計(jì)法 (用于威布爾分布)
標(biāo)簽： 2689.4 GB-T 1981 壽命
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