我公司生產的 USBkey 產品所使用的MCU 電路，自2007 年9 月初USBkey 產品開始量產化后，我們對其部分產品做了電老化試驗，發現該款電路早期失效問題達不到我們要求，上電以后一段時間內失效率為千分之一點五左右。為此，我們從去年10 月到今年2 月對所生產的產品（已發出的除外）全部進行了電老化篩選，通過這項工作發現了一些規律性的東西，對提高電子產品的安全可靠性有一定指導意義。2 試驗條件的設定造成電路早期失效的原因很多，從 IC 設計到半導體生產工藝、電路封裝、焊接裝配等生產工序和生產設備、生產材料、生產環境及人為的因素都有可能是成因，作為電路的使用方不可能都顧及到，也不可控。通過分析，我們認為還是著眼于該款電路在完成半導體生產工藝后，在后部加工中所產生的早期失效問題更有針對性。，因此決定從電路的后部加工工序即封裝、COS 軟件以及產品SMT 加工工藝等方面入手，安排幾種比對試驗并取得試驗數據，以期找出失效原因。
標簽： USBkey MCU 電路 失效
上傳時間： 2014-12-28
上傳用戶：894898248
摘要:IC智能卡使用過程中出現的密碼校驗失效、數據丟失、應用區不能讀寫等一系列失效和可靠性問題,嚴重影響了其在社會生活各領域的廣泛應用.分析研究了IC智能卡芯片碎裂、引線鍵合斷裂、靜電放電損傷等失效模式和失效機理,并結合IC卡制造工藝和失效IC卡的分析實例,對引起這些失效的根本原因作了深入探討,就提升制造成品率、改善可靠性提出應對措施.關鍵詞:IC卡;薄/超薄芯片;碎裂;鍵合
標簽： IC智能卡 失效機理
上傳時間： 2013-11-09
上傳用戶：wangjg
為了保證在高溫條件下，正確使用高頻硅PNP晶體管3CG120，文中對3CG120在不同溫度段的失效機理進行了研究。通過對硅PNP型晶體管3CG120進行170~340 ℃溫度范圍內序進應力加速壽命試驗，發現在170~240 ℃，240~290 ℃，以及290~340 ℃分別具有不同的失效機理，并通過分析得到了保證加速壽命試驗中與室溫相同的失效機理溫度應力范圍。
標簽： PNP 3CG 120 CG
上傳時間： 2013-10-15
上傳用戶：bensonlly
驅動電路的性能很大程度上影響整個系統的工作性能。驅動電路的設計中主要考慮功能和性能等方面的因素。本文首先介紹了某平臺的電機驅動電路，然后就實際工作及實驗中驅動電路出現的失效信息作以分析，對問題進行總結: 導致樣品失效原因是由于電機產生的反電動勢使功率模塊內部的三極管芯片產生表面擊穿，致使電源與地短路，產生大電流導致功率模塊與繼電器以及三極管燒毀。最后并提出了解決方案。
標簽： 光電 電機驅動 失效分析 電路
上傳時間： 2015-01-02
上傳用戶：1427796291
一、PAC的概念及軟邏輯技術二、開放型PAC系統三、應用案例及分析四、協議支持及系統架構五、軟件編程技巧&組態軟件的整合六、現場演示&上機操作。PAC是由ARC咨詢集團的高級研究員Craig Resnick提出的，定義如下:具有多重領域的功能，支持在單一平臺里包含邏輯、運動、驅動和過程控制等至少兩種以上的功能單一開發平臺上整合多規程的軟件功能如HMI及軟邏輯, 使用通用標簽和單一的數據庫來訪問所有的參數和功能。軟件工具所設計出的處理流程能跨越多臺機器和過程控制處理單元, 實現包含運動控制及過程控制的處理程序。開放式, 模塊化構架, 能涵蓋工業應用中從工廠的機器設備到過程控制的操作單元的需求。采用公認的網絡接口標準及語言，允許不同供應商之設備能在網絡上交換資料。
標簽： PAC 開放式 系統設計
上傳時間： 2014-01-14
上傳用戶：JGR2013
C51編寫對SST 之FLASH操作源代碼,用單片機實現對SST39VF040的操作
標簽： SST FLASH C51 040
上傳時間： 2015-01-04
上傳用戶：84425894
用於手機的BMP格式解析
標簽： BMP 格式解析
上傳時間： 2015-01-09
上傳用戶：thuyenvinh
陽光男孩庫理用心打造的文學刊物！ 請你進入只有情感激蕩的文學世界！
標簽：
上傳時間： 2015-01-11
上傳用戶：PresidentHuang
利用PC控制單片機的實現步驟
標簽： PC控制
上傳時間： 2015-01-17
上傳用戶：zhangzhenyu
獲得本機 IP 地址的程序
標簽： IP 地址 程序
上傳時間： 2014-01-21
上傳用戶：waitingfy
蟲蟲下載站版權所有 京ICP備2021023401號-1
