?? 失效技術(shù)資料

?? 資源總數(shù):122
?? 源代碼:303

?? 失效全部資料 (122個(gè))

環(huán)境的不斷污染、石油能源的加劇消耗促使純電動(dòng)車成為了各國(guó)各汽車廠商爭(zhēng)相研究的對(duì)象。而閥控免維護(hù)鉛酸蓄電池(VRLA)憑著其低廉的價(jià)格優(yōu)勢(shì)占據(jù)了車用蓄電池的大部分市場(chǎng)份額。本文旨在開發(fā)一套完整的VRLA...

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genesis9.0算號(hào)器提供genesis算號(hào)器使用視頻。安裝文件一定要放在小寫英文路徑下,中文不行,有大寫字母的英文也不行。1.算號(hào)器的只是算gnd的號(hào),要算get的號(hào),需要參考算號(hào)器的步驟。...

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靜電放電(ESD)是造成大多數(shù)電子元器件或電路系統(tǒng)破壞的主要因素。因此,電子產(chǎn)品中必須加上ESD保護(hù),提供ESD電流泄放路徑。電路模擬可應(yīng)用于設(shè)計(jì)和優(yōu)化新型ESD保護(hù)電路,使ESD保護(hù)器件的設(shè)計(jì)不再停...

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由于CMOS器件靜電損傷90%是延遲失效,對(duì)整機(jī)應(yīng)用的可靠性影響太大,因而有必要對(duì)CMOS器件進(jìn)行抗靜電措施。本文描述了CMOS器件受靜電損傷的機(jī)理,從而對(duì)設(shè)計(jì)人員提出了幾種在線路設(shè)計(jì)中如何抗靜電...

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半導(dǎo)體的產(chǎn)品很多,應(yīng)用的場(chǎng)合非常廣泛,圖一是常見(jiàn)的幾種半導(dǎo)體元件外型。半導(dǎo)體元件一般是以接腳形式或外型來(lái)劃分類別,圖一中不同類別的英文縮寫名稱原文為   PDID:Plastic Dua...

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根據(jù)汽車發(fā)動(dòng)機(jī)控制芯片的工作環(huán)境,針對(duì)常見(jiàn)的溫度失效問(wèn)題,提出了一種應(yīng)用在發(fā)動(dòng)機(jī)控制芯片中的帶隙基準(zhǔn)電壓源電路。該電路采用0.18 μm CMOS工藝,采用電流型帶隙基準(zhǔn)電壓源結(jié)構(gòu),具有適應(yīng)低電...

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結(jié)合功率MOSFET管不同的失效形態(tài),論述了功率MOSFET管分別在過(guò)電流和過(guò)電壓條件下?lián)p壞的模式,并說(shuō)明了產(chǎn)生這樣的損壞形態(tài)的原因,也分析了功率MOSFET管在關(guān)斷及開通過(guò)程中發(fā)生失效形態(tài)的差別,從...

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在航天等空間產(chǎn)品中使用的分布式供電系統(tǒng)中,總體電路一般只提供27~30 V的直流一次電源,各單機(jī)產(chǎn)品大多采用DC/DC模塊將該一次電源轉(zhuǎn)換為所需的二次電源,并實(shí)現(xiàn)一次地與二次地的隔離。分析了INTER...

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