數(shù)字集成電路與嵌入式內(nèi)核系統(tǒng)可測試性設(shè)計(影印版)
·書中包括的索引使你能夠根據(jù)自己的需要,直接閱讀你所關(guān)注的內(nèi)容。主要內(nèi)容包括:設(shè)計核心,關(guān)注嵌入核心和嵌入存儲器;系統(tǒng)集成和超大規(guī)模集成電路的設(shè)計問題;AC掃描、正常速度掃描和嵌入式可測試性設(shè)計;內(nèi)建、自測試、含內(nèi)存BIST、邏輯BIST及掃描BIST;虛擬測試套接字和隔離測試 ·重用設(shè)計,包括重用...