GB-T 2689.2-1981 壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的圖估計(jì)法 (用于威布爾分布)
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GB-T 2689.4-1981 命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的最好線性無偏估計(jì)法 (用于威布爾分布)
標(biāo)簽： 2689.4 GB-T 1981 壽命
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GB-T4677.21-1988 印制板鍍層孔隙率測試方法 氣體暴露法
標(biāo)簽： 4677.21 GB-T 1988 印制板
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GB-T 2689.3-1981 壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的簡單線性無偏估計(jì)法 (用于威布爾分布)
標(biāo)簽： 2689.3 GB-T 1981 壽命
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專輯類----單片機(jī)專輯 I2C-總線8-位遠(yuǎn)程I-O-擴(kuò)展口芯片PCF8574-的原.rar
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專輯類----單片機(jī)專輯 單片機(jī)與數(shù)／模（D／A）轉(zhuǎn)換器的接口-3頁-0.2M.rar
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專輯類-電子管及音響相關(guān)專輯-43冊-454M D類音頻功率放大器設(shè)計(jì)-46頁-2.8M.pdf
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專輯類-電子工藝-質(zhì)量及可靠性相關(guān)專輯-80冊-9020M 半導(dǎo)體製程概論-20.8M-ppt版.zip
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