磁性元件特性簡介
上傳時間: 2013-11-25
上傳用戶:Wwill
研究了MPP電荷耦合器件(CCD)暗電流和暗電流非均勻性的溫度特性,并與非MPP CCD的暗電流和暗電流非均勻性的溫度特性進行了對比分析。研究結果表明,MPP CCD抑制了表面暗電流,相較于非MPP CCD具有較低的暗電流和暗電流非均勻性,可以承受更高的工作溫度。
上傳時間: 2013-10-23
上傳用戶:netwolf
電阻電壓降的空氣擊穿強度為 500KV/m 已是共識,然而筆者在研制“低壓電源避雷絕緣子”專利產品過程中,發(fā)現(xiàn)小間隙的電阻電壓降的空氣擊穿強度大大高于此值,于是就對空氣微小間隙放電的伏距特性進行了測試研究。發(fā)現(xiàn)了空氣間隙放電的伏距特性隨著間隙的增大由非線性變化區(qū)段發(fā)展到線性變化區(qū)段的規(guī)律。500KV/m 只是間隙無限增大時空氣擊穿強度無限趨近的最低值,與小間隙的空氣擊穿強度嚴重不符。
上傳時間: 2013-10-20
上傳用戶:togetsomething
摘要:發(fā)光二極管(LED)技術的快速發(fā)展使其在照明工程中的應用越來越廣泛。針對LED 照明的特點和光學特性參數(shù),從驅動電路入手,設計了一款照明燈實用LED 驅動電路,并將理論分析結果與LED 驅動電路的實際測量結果進行了對比,對比結果表明,該驅動電路具有實用性,既能滿足照明工程的功能性要求,又能夠實現(xiàn)最大限度的節(jié)能。
標簽: 照明 串聯(lián)飽和 恒流 特性分析
上傳時間: 2013-11-20
上傳用戶:klin3139
基于槽式聚光熱電聯(lián)供系統(tǒng),深入分析晶硅電池陣列和砷化鎵電池陣列在高倍聚光下的輸出特性及輸出功率的影響因素+ 研究結果表明,聚光光強下砷化鎵電池陣列輸出性能優(yōu)于晶硅電池陣列,高光強會導致光伏電池禁帶寬度變窄,短路電流成倍增加,增加輸出功率,但同時耗盡層復合率變大,開路電壓降低,制約陣列的輸出功率;高光強還引起電池溫度升高,電池陣列串聯(lián)內阻增加+ 分析表明聚光作用下電池陣列串聯(lián)內阻對輸出功率影響巨大,串聯(lián)內阻從&!增加!!,四種電池陣列輸出功率分別損失$*,*(-,*.,’)-,**,)&-和%(,&!- +
上傳時間: 2013-10-18
上傳用戶:趙一霞a
背光組件中主要的發(fā)光器件冷陰極熒光燈(CCFL)具有特定的電氣特性.通過實驗研究了CCFL的與發(fā)光亮度和發(fā)光效率有關的特性.定性地分析了CCFL的自激振蕩電路的工作原理。并在此基礎上,對逆變振蕩電路進行了定量的理論分析.為設計高效率驅動電路提供參考依據(jù)。
上傳時間: 2013-11-07
上傳用戶:love1314
冷陰極熒光燈(CCFL)是填充了惰性氣體的密封玻璃管。當在管子上加高壓時,氣體電離產生紫外(UV)光。UV光激勵內部磷光粉涂層,產生可見光。CCFL具有很多非常好的特性,包括:
上傳時間: 2013-10-23
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依據(jù)我國及世界各國特高壓輸電研究成果以及前蘇聯(lián)和日本特高壓輸電線路運行經驗,并結合我國的特高壓輸電示范工程路徑的特點和途徑地區(qū)已有各電壓等級輸電線路的運行經驗,對晉東南一南陽一荊門1000 kV交流特高壓輸電示范工程建成投運后的運行特性及其對自然環(huán)境的影響進行了分析,重點分析了特高壓輸電線路的雷電、防污閃、冰風、防鳥害等特性,對建成后特高壓輸電線路的電磁環(huán)境進行了評估,并對特高壓輸電線路的運行指標作出了預
上傳時間: 2013-10-08
上傳用戶:LP06
在電學實驗中,為了得到我們所需要的電壓或電流,我們經常需要把滑線變阻器連接成分壓或限流兩種形式,對電源進行控制與調節(jié)。在實驗應用中,如何根據(jù)實驗條件和要求來正確選擇滑線變阻器的參數(shù)(阻值,額定電流)是我們必須掌握的技能。參數(shù)選擇合適,電壓(電流)就能準確、穩(wěn)定地調節(jié),實驗就能順利進行。選擇不當,實驗條件就不穩(wěn)定,使實驗不能穩(wěn)定進行,甚至損壞儀表。本實驗對這兩種的輸出特性進行研究,以指導我們合理設計與選用控制電路。
上傳時間: 2013-12-28
上傳用戶:guojin_0704
利用單片機具有的智能程序控制的特點,設計了基于STC89C52單片機的"二極管特性測試器",可對二極管一般特性進行快速測試。通過穩(wěn)定線性電流源給二極管加載恒定電流,然后由高精度模數(shù)轉換器測試其壓降,以此為基礎可判斷二極管好壞、檢測二極管極性和測試二極管伏安特性等,避免了用萬用表測試只能測得極性而不知其特性這一缺點??捎糜陔娮釉O計制作過程中對二極管進行快速測試,以確定被測二極管是否滿足電路的設計要求。 Abstract: By making good use of the intelligent control function of the Micro Controller Unit (MCU), the diode trait tester was designed based on the STC89C52,which could be used to test the trait of a diode rapidly. By loading constant current to diode through the stable linear current source, and measuring the voltage drop of the diode by high-precision analogue-to-digital converter (ADC), it can judge whether the diode is good or not, distinguish the polarity of the diode, and test the trait that the diode, which can avoid the fault of using a multimeter can only measure the polarity but not the trait. This device can be used to test the trait of a diode quickly,and to make sure that whether a diode can be used in the electronic design or not.
上傳時間: 2013-11-13
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