本書內(nèi)容包括：
快速有效的測試存儲器芯片
如何寫入和擦除快閃存儲器
用循環(huán)冗余校驗碼驗證非易失性存儲器數(shù)據(jù)
與芯片的內(nèi)部外設(shè)和外部外設(shè)接口
設(shè)計和實現(xiàn)設(shè)備驅(qū)動
優(yōu)化嵌入式軟件
最大限度高性能的應(yīng)用C++特性
本書適用于嵌入式系統(tǒng)程序員、設(shè)計師和項目管理人員
標簽：
測試
存儲器芯片
存儲器數(shù)據(jù)
外設(shè)
上傳時間：
2016-08-31
上傳用戶：yph853211
