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性能測試

芯睿兼容產(chǎn)品性能說明

芯睿兼容產(chǎn)品性能說明

標(biāo)簽： 兼容性能

上傳時間： 2013-11-03

上傳用戶：xg262122
基于單片機(jī)拖拉機(jī)性能測試儀的研究

基于單片機(jī)拖拉機(jī)性能測試儀的研究

標(biāo)簽： 單片機(jī) 拖拉機(jī) 性能測試儀

上傳時間： 2014-12-26

上傳用戶：zjf3110
新型的鍵盤顯示驅(qū)動芯片CH451的性能特點(diǎn)和工作原理

介紹一種新型的鍵盤顯示驅(qū)動芯片CH451的性能特點(diǎn)和工作原理，給出了CH451鍵盤顯示驅(qū)動芯片與MCS－51單片機(jī)的接口方法與相應(yīng)的軟件驅(qū)動程序。

標(biāo)簽： 451 CH 鍵盤顯示性能特點(diǎn)

上傳時間： 2013-11-08

上傳用戶：黃酒配奶茶
AVR高檔性能低檔價格的單片機(jī)ATmega8的開發(fā)與應(yīng)用

ATmega8屬于美國ATMEL公司AVR高檔單片機(jī)成員之一,它具有AVR高檔單片機(jī)的性能,且具有低檔單片機(jī)的價格,深受廣大單片機(jī)用戶的喜愛尤其AVR單片機(jī)不需購買昂貴的仿真器編程器也可搞單片機(jī)的開發(fā)應(yīng)用,這對單片機(jī)初學(xué)者尤為重要ATmega8的高性能低價格,在產(chǎn)品應(yīng)用市場上極具強(qiáng)大的競爭力,被很多家用電器廠商儀器儀表行業(yè)看中,從而使ATmega8進(jìn)入大批量的應(yīng)用領(lǐng)域?yàn)榱耸箛鴥?nèi)外用戶深入了解牢固掌握ATmega8的開發(fā)與應(yīng)用,廣州雙龍電子有限公司迅速開發(fā)出SL-MEGA8開發(fā)實(shí)驗(yàn)器(評估系統(tǒng)),硬件模塊充份考慮到ATmega8的性能特點(diǎn)及其配套電路接口,軟件上也給用戶提供相應(yīng)的軟件模塊,使用戶快速上手,設(shè)計出適合自己項(xiàng)目的科研樣機(jī)Atmega8與ATmega16/32/64/128僅存在量的差異,主要性能完全兼容,所以學(xué)會ATmega8的開發(fā)應(yīng)用,對其它ATmega系列單片機(jī)也就迎刃而解雙龍電子將組織出版一本ATmega8的開發(fā)與應(yīng)用專著,為推廣AVR單片機(jī)提供更多的資料。

標(biāo)簽： ATmega8 AVR 性能價格

上傳時間： 2013-11-03

上傳用戶：euroford
基于C8051的光纜性能試驗(yàn)機(jī)的設(shè)計

設(shè)計了一種基于C8051F340微處理器的新型光纜性能試驗(yàn)機(jī)的控制系統(tǒng)。針對傳統(tǒng)試驗(yàn)機(jī)的不足,簡化了設(shè)計方案、提高了采集數(shù)據(jù)的精度、改進(jìn)了控制臺的設(shè)計和數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)遞的方式、增加了語音告警和提示功能。該方案能廣泛應(yīng)用于數(shù)據(jù)采集、工業(yè)監(jiān)控和網(wǎng)絡(luò)傳輸?shù)阮I(lǐng)域。對硬件和軟件設(shè)計中的關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了說明。

標(biāo)簽： C8051 光纜性能試驗(yàn)機(jī)

上傳時間： 2013-11-16

上傳用戶：change0329
C8051F040在曳引及制動性能檢測系統(tǒng)中的應(yīng)用

基于改善電梯檢測現(xiàn)狀和電梯檢測的高可靠性的考慮,設(shè)計了一套基于CAN總線的電梯曳引及制動性能檢測系統(tǒng)。本文著重闡述了檢測系統(tǒng)的CAN節(jié)點(diǎn)里比較有代表性的、利用C8051F040單片機(jī)設(shè)計的一個多功能混合信號節(jié)點(diǎn)的硬件和軟件設(shè)計方法以及基于此節(jié)點(diǎn)的CAN總線系統(tǒng)調(diào)試方式。實(shí)際應(yīng)用結(jié)果證明本檢測系統(tǒng)的設(shè)計方法正確,具備很好的可靠性和應(yīng)用前景。

標(biāo)簽： C8051F040 制動性能中的應(yīng)用檢測系統(tǒng)

上傳時間： 2013-10-18

上傳用戶：waizhang
DM647,DM648應(yīng)用及性能

達(dá)芬奇技術(shù)使視頻安全與監(jiān)控應(yīng)用獲得系統(tǒng)性能雙倍提升，系統(tǒng)成本大幅降低

標(biāo)簽： DM 647 648 性能

上傳時間： 2013-10-11

上傳用戶：菁菁聆聽
改善基于微控制器的應(yīng)用的瞬態(tài)免疫性能

家電制造業(yè)的競爭日益激烈，市場調(diào)整壓力越來越大，原始設(shè)備制造商們（OEM）為了面對這一挑戰(zhàn)，必須在滿足電磁兼容性的條件下，不斷降低產(chǎn)品的成本。由于強(qiáng)調(diào)成本控制，為防止由電源和信號線的瞬變所產(chǎn)生的電器故障而實(shí)施必要的瞬態(tài)免疫保護(hù)，對于家電設(shè)計者來說變得更具挑戰(zhàn)性。由于傳統(tǒng)的電源設(shè)計和電磁干擾（EMI）控制措施為節(jié)約成本讓路，家電設(shè)計者必須開發(fā)出新的技術(shù)來滿足不斷調(diào)整的電磁兼容（EMC）需求。本應(yīng)用筆記探討了瞬態(tài)電氣干擾對嵌入式微控制器（MCU）的影響，并提供了切實(shí)可行的硬件和軟件設(shè)計技術(shù)，這些技術(shù)可以為電快速瞬變（EFT）、靜電放電（ESD）以及其它電源線或信號線的短時瞬變提供低成本的保護(hù)措施。雖然這種探討是主要針對家電制造商，但是也適用于消費(fèi)電子、工業(yè)以及汽車電子方面的應(yīng)用。低成本的基于MCU 的嵌入式應(yīng)用特別容易受到ESD 和EFT 影響降低性能。即使是運(yùn)行在較低時鐘頻率下的微控制器，通常對快速上升時間瞬變也很敏感。這種敏感性歸咎于所使用的工藝技術(shù)。如今針對低成本8/16位的MCU的半導(dǎo)體工藝技術(shù)所實(shí)現(xiàn)的晶體管柵極長度在0.65 μm～0.25 μm范圍內(nèi)。此范圍內(nèi)的柵極長度能產(chǎn)生和響應(yīng)上升時間在次納秒范圍內(nèi)（或超過300 MHz 的等同帶寬）的信號。因此， MCU 能夠響應(yīng)進(jìn)入其引腳的ESD 或EFT 信號。除上述工藝技術(shù)之外， MCU 在ESD 或EFT 事件中的性能還會受到IC 設(shè)計及其封裝、印刷電路板（PCB）的設(shè)計、MCU 上運(yùn)行的軟件、系統(tǒng)設(shè)計以及ESD 或EFT 波形特征的影響。各因素的相對影響（強(qiáng)調(diào)對最大影響的貢獻(xiàn)）如圖1 所示。

標(biāo)簽： 微控制器瞬態(tài)免疫性能

上傳時間： 2013-11-09

上傳用戶：Jerry_Chow
TMS320F28335DSP在電力電子變流器中、性能優(yōu)勢分析

TMS320F28335DSP在電力電子變流器中、性能優(yōu)勢分析

標(biāo)簽： F28335 28335 320F TMS

上傳時間： 2013-11-20

上傳用戶：arnold
基于FPGA的隨機(jī)數(shù)性能檢測設(shè)計

為了滿足對隨機(jī)數(shù)性能有一定要求的系統(tǒng)能夠?qū)崟r檢測隨機(jī)數(shù)性能的需求，提出了一種基于FPGA的隨機(jī)數(shù)性能檢測設(shè)計方案。根據(jù)NIST的測試標(biāo)準(zhǔn)，采用基于統(tǒng)計的方法，在FPGA內(nèi)部實(shí)現(xiàn)了對隨機(jī)序列的頻率測試、游程測試、最大游程測試、離散傅里葉變換測試和二元矩陣秩測試。與現(xiàn)在常用的隨機(jī)數(shù)性能測試軟件相比，該設(shè)計方案，能靈活嵌入到需要使用隨機(jī)數(shù)的系統(tǒng)中，實(shí)現(xiàn)對隨機(jī)性能的實(shí)時檢測。實(shí)際應(yīng)用表明，該設(shè)計具有使用靈活、測試準(zhǔn)確、實(shí)時輸出結(jié)果的特點(diǎn)，達(dá)到了設(shè)計要求。

標(biāo)簽： FPGA 隨機(jī)數(shù) 性能檢測

上傳時間： 2013-11-13

上傳用戶：lliuhhui