?? 掃描電鏡技術(shù)資料

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?? 源代碼：4871
掃描電子顯微鏡（SEM）是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質(zhì)間的相互作用，來激發(fā)各種物理信息，對這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達(dá)到1nm；放大倍數(shù)可以達(dá)到30萬倍及以上連續(xù)可調(diào)；并且景深大，視野大，成像立體效果好。此外，掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合，可以做到觀察微觀形貌的同時進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。因此掃描電子顯微鏡在科學(xué)研究領(lǐng)域具有重大作用。[1]

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Yfont 能夠提取字庫，生成漢字掃描碼，可以應(yīng)用于LED顯示屏電路的設(shè)計中。Yfont安裝包已經(jīng)自帶了12點陣、16點陣字庫。...

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隨著印制電路板功能的日益增強，結(jié)構(gòu)日趨復(fù)雜，系統(tǒng)中各個功能單元之間的連線間距越來越細(xì)密，基于探針的電路系統(tǒng)測試方法已經(jīng)很難滿足現(xiàn)在的測試需要。邊界掃描測試(BST)技術(shù)通過將邊界掃描寄存器單元安插在集成電路內(nèi)部的每個引腳上，相當(dāng)于設(shè)置了施加激勵和觀測響應(yīng)的內(nèi)建虛擬探頭，通過該技術(shù)可以大大的提高數(shù)字系...

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·中文名: 現(xiàn)代導(dǎo)彈控制系統(tǒng)設(shè)計作者: 楊 軍 楊 晨 段朝陽賈曉洪圖書分類: 教育/科技資源格式: PDF版本: 掃描版出版社: 航空工業(yè)出版社書號: 7-80183-622-7發(fā)行時間: 2005年地區(qū): 大陸語言: 簡體中文內(nèi)容提要 　　《現(xiàn)代導(dǎo)彈制導(dǎo)控制系統(tǒng)設(shè)計》探討了現(xiàn)代導(dǎo)彈控制系統(tǒng)的分析...

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