機(jī)械工業(yè)是國民經(jīng)濟(jì)的裝備部門,而標(biāo)準(zhǔn)化和計(jì)量測試是機(jī)械工業(yè)發(fā)展的基礎(chǔ)和先決條件。在機(jī)械制造中,精密加工必須靠精密的測量手段來保證,加工精度的提供與計(jì)量技術(shù)的發(fā)展水平密切相關(guān)。測量與控制是促進(jìn)科技發(fā)展的一個(gè)重要因素。CCD(Charge Coupled Device),電荷耦合器件,是70年代初發(fā)展起來的新型半導(dǎo)體器件,其設(shè)計(jì)思想是由美國貝爾實(shí)驗(yàn)室的Boyer與Smith于70年代提出]。二十多年來,CCD的研究取得了驚人的進(jìn)展,特別是在傳感器應(yīng)用方面發(fā)展迅速,已成為現(xiàn)代光電子學(xué)與現(xiàn)代測試技術(shù)中最活躍、最富有成果的新興領(lǐng)域之一。由于CCD具有自掃描、高分辨率、高靈敏度、重量輕、體積小、像素位置準(zhǔn)確、耗電少、壽命長、可靠性好、信號處理方便、易于與計(jì)算機(jī)配合等優(yōu)點(diǎn),致使CCD光電尺寸測量的使用范圍和特性比現(xiàn)有的機(jī)械式、光學(xué)式、電磁式量儀優(yōu)越得多。特別值得注意的是CCD尺寸測量技術(shù)是一種非常有效的非接觸檢測方法,它使加工、檢測和控制過程融為一體成為可能。利用CCD作為光敏感器件的激光三角法測量技術(shù)在非接觸尺寸、位置測量中得到了廣泛應(yīng)用。它將激光束投射到被測物面所形成的漫反射光斑作為傳感信號,用透鏡成像原理將收集到的漫反射光匯集到CCD上形成像點(diǎn),當(dāng)入射光斑隨被測物面移動(dòng)時(shí),成像點(diǎn)在CCD上作相應(yīng)移動(dòng),根據(jù)象移大小和傳感器的結(jié)構(gòu)參數(shù)可以確定被測物面的位移量,若在物體兩邊同時(shí)測量就可以得到物體的厚度。
標(biāo)簽:
ccd
數(shù)據(jù)采集
上傳時(shí)間:
2022-06-23
上傳用戶:xsr1983