?? 材料規格技術資料

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提出了一個考慮ＦＰ 效應的半導體材料參數測量方案。利用該方案可以在時域波形中，截取多個反射回峰，以提高材料參數提取的精確度。另外，考慮到多重反射對樣品厚度的準確性要求較高，提出了一種有效的厚度優化方法。以ＧａＡｓ 為待測樣品，利用上述方法精確提取了其折射率與消光系數譜. ...

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利用介質陶瓷材料制造的高穩定、寬溫單片（或獨石）電容器，廣泛應用于航空航天、軍事及民用通信及電子設備中。在對介質陶瓷材料組分理論、控制溫度工藝研究，以及BaTiO3-MgO3-Nb2O5系材料組分重組的分析的基礎上，通過改進研磨工藝，控制煅燒溫度等方法，研制出了工作溫度范圍寬、低損耗、介電常數&ep...

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