第1章 引 言產業界人士和觀察家(甚至包括那些經過多年外層空間旅行剛剛返回這個世界的人)都已經很清楚,因特網( I n t e r n e t)發展所達到的地位和其所產生的現象都不同于本世紀或上世紀所提出的任何一種技術。 I n t e r n e t的延伸和影響范圍、有關 I n t e r n e t 出版物、以及包括美國在線(A O L)、美國電報電話公司( AT & T)和微軟公司等I n t e r n e t產業界的大量風險投資者,這一切都會使我們有一種紛繁迷亂的感覺。所有這些都是通過這樣或那樣的方式與 I n t e r n e t連接起來。I n t e r n e t也是Joe Sixpack和Fortune 1000這樣的網站每天都關心、考慮和使用的唯一技術。或許I n t e r n e t是世界上少有的幾個能夠以相同的平等程度來對待每一個用戶的實體組織之一。一個企業的首席執行官( C E O)如果想給公司提供更好的網絡服務保證,他必須建立一個專用網絡。而在I n t e r n e t中,每一個人對網絡的訪問都是平等的。I n t e r n e t的發展并沒有損害到那些在過去 1 5 0年中所發展起來的其他技術。的確,電話技術是相當重要的,它可以使我們能夠在雙方不見面的情況下通過聲音與線路另一端的人通話。同樣,汽車也改變了我們的生活,汽車的出現能夠使我們在一天之內跨越更大的距離,而這個距離要比任何其他動物多出一個數量級。電燈、無線電和電視都曾經是改善我們日常生活的十分重要的技術,擴展了我們在非睡眠狀態的時間,向我們傳播各種信息,使我們享受更多的娛樂。我們已經在很大程度上解決了生存問題。大多數人的飯桌上有足夠的食品、有溫暖的住所,并且都有一個工作場所,可以每天早出晚歸地工作。我們也可以不必被動地接收各種電視節目,而可以輕松地使用遙控器選擇欣賞自己喜愛的頻道。I n t e r n e t除了有把事情變得更好的能力外,也可能會把事情搞得更糟。在好的一方面,I n t e r n e t能夠使我們在世界范圍同人們進行對等通信;使我們能夠訪問那些存儲在數以百萬計的網絡計算機上的幾乎無限的大量信息。一些功能強大的搜索引擎能夠使我們更加簡單和迅速地實現對有用、有意義的信息資源的定位。不同階段的商務活動,包括從最初的偶然興趣直到成熟的采購定單等,都可以在 I n t e r n e t上完成。甚至于許多人已經開始幻想在將來的某天,I n t e r n e t能使我們不再需要每天早起去上班了。人們可以靠在枕頭上使用一臺膝上型計算機(或許將來可能出現的任何先進的計算機)通過撥接 I n t e r n e t對所有的商務活動和某些消遣娛樂進行管理和維護。在不利的一方面,I n t e r n e t也可能使我們成為有電子怪癖的人,使我們缺乏與其他人進行直接交流的能力。人們僅有的非睡眠時間都將被耗費在計算機的熒光屏前,不停地鍵入I n t e r n e t地址(U R L)或指向其他的超級鏈接。最令人不安的是,由于“等待回應( W F R E,waiting for reply)”而浪費的時間是不可挽回的。 W F R E現象的出現是由于I n t e r n e t上太擁塞、太慢,以至于你的瀏覽器似乎進入了一個永久“等待回應”的狀態。有時候它只是幾秒鐘的問題;另一些情況下可能是幾分鐘。你在 W F R E狀態下盯著計算機熒光屏等待所花費的時間第一部分 概 述是相當大的,這些時間的總和可能會是一個令人吃驚的數字,其數量級或許是幾個月甚至幾年。我們所討論的要點在于:1) Internet已經經歷了巨大的增長過程,并且這種增長將會繼續。2) 不論是居民用戶或者是團體用戶, I n t e r n e t都受到了同等的歡迎。對于后者, I n t e r n e t還意味著新的收入增長點。3) 一些實力很強并且有創造力的產業巨頭正在致力于 I n t e r n e t的應用,以便為其企業自身及其消費者提供有利條件。無庸置疑,不論是偶爾對 I n t e r n e t的臨時使用還是正式規范地應用I n t e r n e t,都將導致對I n t e r n e t更多的興趣和廣告宣傳。與此同時,也將伴隨著 I n t e r n e t應用和及其流量的成比例的增長。4) 目前I n t e r n e t的帶寬和容量還是缺乏的,這導致了 I n t e r n e t上不穩定的響應時間和不可預知的性能。同時產生的問題是, I n t e r n e t是否有能力支持未來的、高帶寬需求的、時延敏感的應用?或者說I n t e r n e t是否有能力支持居民對帶寬容量的適度增長的需求?我們是如何進入了這樣一個不穩定的狀態呢?這個問題有若干答案,但其中沒有一個是真正有權威性的解釋,或許還有一些是可以根本不考慮的。首先, I n t e r n e t是其自身成功的一個受害者。每一天都有新的用戶加入到 I n t e r n e t中,越來越多的人不停地使用瀏覽器通過一個We b站點搜尋他們所感興趣的下一個 We b站點。由于訪問 I n t e r n e t的價格僅是電話的市話費用附加一個適度的費率,因此并沒有一個價格上的保護手段來防止某些瀏覽者對 I n t e r n e t資源的長時間占用。另一種資源的缺乏不一定是由于網絡資源的不足引起的,而更大程度上是由于服務器的資源不足造成的。對某些服務器或服務器陣列來說,突發性的連接請求所引起的負荷和突發的頻度可能大大超過了這些服務器的處理能力。這種突發的大量的連接請求一般發生在大量的客戶試圖同時訪問同一個 We b服務器的時候。這個問題可以被認為是一個臨時性的問題,因為服務器的供應商通常會不斷地提供新型的內容服務器主機、負載平衡器、 We b緩存器等來使該問題得到緩解 。另一個問題是某些鏈路可能正好沒有足夠的帶寬來支持業務所提供的流量負荷。這個問題的部分解決方案當然是增加更多的帶寬;一些新的技術,如波分復用( W D M)技術,似乎可以為用戶提供幾乎無限的帶寬。所有這些我們上述所討論的問題都是造成 I n t e r n e t及I n t r a n e t(I n t r a n e t是I n t e r n e t在企業范圍內的一個著名的復制品)性能極其不穩定的重要因素。在這些問題中,有很多都已經被研究清楚了;雖然其中有些諸如價格等問題是不可能在一夜之間得到解決的,但是我們至少已經知道解決方案是存在的,并且可以在不久的將來得到應用。然而,有關I n t e r n e t性能和基于I P協議進行網絡互連的最基本問題,很大程度上還在于基本 I P路由轉發處理過程和該功能的實現平臺。
標簽: ip交換技術
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VIP專區-嵌入式/單片機編程源碼精選合集系列(39)資源包含以下內容:1. 這是有關SPI總線的一段讀寫程序.2. 這是一段MAX7219的驅動C51源程序.3. 利用msp430的通用I/O端口模擬I2c協議的源代碼.4. 超級下載軟件(progisp ver1.1)包括并口下載器與usb isp下載器的詳細制作資料.5. MCS51產單片機上實現的tcp/ip,很全的哦,需要的可以參考一下..6. 嵌入式系統圖形用戶界面編程.7. 05嵌入式大會的部分演講稿.8. 51系列對CH375模塊讀寫.9. test for boundary scan and CPLD ics..10. 這是我個人再學習ARM7s3c2410的 時候用到的試驗代碼.11. 本人水品有限.12. 是在不好意思.13. 入門試驗代碼.14. pxros的使用說明.15. 在NIOS中利用C語言模擬I2C總線時序.16. ALTERA NIOS處理器實驗.17. ALTERA NIOS處理器實驗.18. ALTERA NIOS處理器實驗.19. ALTERA NIOS處理器實驗.20. ALTERA NIOS處理器實驗.21. 隨著高性能計算的需求.22. ADS1.2是一個使用方便的集成開發環境.23. AVR單片機嵌入式操作系統原代碼.24. 有關rtos的書.25. 重要的匯編語言編程......和大家一起分享.26. AT91M55800A材料-BasicTimer.27. I2c代碼.28. WINDOWS系統下灰度的BMP圖片轉換成黑白圖片..29. 在WINDOWS CE.NET 系統中讀RDP連接的用戶名的密碼..30. 嵌入式實時操作系統μCOS-在ARM上的移植應用.31. 在s3c44b0x運行的俄羅斯方塊游戲 DOS參考代碼.32. uCOS-II在C51下的一個完整的LCD項目源碼.33. 石子歸并問題:在一個圓形操場的四周擺放著N堆石子(N<= 100),現要將石子有次序地合并成一堆.規定每次只能選取相鄰的兩堆合并成新的一堆,并將新的一堆的石子數,記為該次合并的得分.編一程序,由.34. 單片機及嵌入式系統web實現的文章 很好的:MCU應用系統與Internet連接的一種新技術.35. 單片機發展趨勢的文章: 從Cygnal C8051F看8位單片機發展之路 好.36. usb host在ARM7上的實現.37. 對arm300的一些簡單的試驗做了詳細地說明和講解.38. arm技術手冊.39. arm7上開發usb的文檔,說得非常好.40. 一個關于s1d13806的應用程序.
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資源包含以下內容:1.GBT2423.07-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ec和導則傾跌與翻倒(主要用于設備型樣品).pdf2.GBT2423.08-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ed自由跌落.pdf3.GBT2423.09-2001 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗cb設備用恒定濕熱.pdf4.GBT2423.10-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fc和導則振動(正弦).pdf5.GBT2423.11-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fd寬頻帶隨機振動--一般要求 .pdf6.GBT2423.12-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fda寬頻帶隨機振動--高再現性.pdf7.GBT2423.13-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fdb寬頻帶隨機振動中再現性.pdf8.GBT2423.14-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fdc寬頻帶隨機振動低再現性.pdf9.GBT2423.15-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ga和導則穩態加速度.pdf10.GBT2423.16-1999 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗j和導則長霉.pdf11.GBT2423.17-1993 電工電子產品基本環境試驗規程試驗ka 鹽霧試驗方法.pdf12.GBT2423.18-2000 電工電子產品環境試驗第二部分 試驗--試驗kb 鹽霧,交變(氯化鈉溶液).pdf13.GBT2423.19-1981 電工電子產品基本環境試驗規程試驗kc 接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法.pdf14.GBT2423.20-1981 電工電子產品基本環境試驗規程試驗kd 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法.pdf15.GBT2423.21-1991 電工電子產品基本環境試驗規程試驗m 低氣壓試驗方法.pdf16.GBT2423.22-2002 電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗n 溫度變化.pdf17.GBT2423.23-1995 電工電子產品環境試驗試驗q 密封.pdf18.GBT2423.24-1995 電工電子產品環境試驗第二部分 試驗方法試驗sa 模擬地面上的太陽輻射.pdf19.GBT2423.25-1992 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zam 低溫低氣壓綜合試驗.pdf20.GBT2423.26-1992 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zbm 高溫低氣壓綜合試驗.pdf21.GBT2423.27-1981 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zamd 低溫低氣壓濕熱連續綜合試驗方法.pdf22.GBT2423.28-1982 電工電子產品基本環境試驗規程試驗t 錫焊試驗方法.pdf23.GBT2423.29-1999 電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗u 引出端及整體安裝件強度.pdf24.GBT2423.30-1999 電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗xa 和導則在清洗劑中浸漬.pdf25.GBT2423.31-1985 電工電子產品基本環境試驗規程傾斜和搖擺試驗方法.pdf26.GBT2423.32-1985 電工電子產品基本環境試驗規程潤濕稱量法可焊性試驗方法.pdf27.GBT2423.33-1989 電工電子產品基本環境試驗規程試驗kca 高濃度二氧化硫試驗方法.pdf28.GBT2423.34-1986 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zad 溫度濕度組合循環試驗方法.pdf29.GBT2423.35-1986 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zafc 散熱和非散熱試驗樣品的低溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf30.GBT2423.36-1986 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zbfc 散熱和非散熱樣品的高溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf31.GBT2423.37-1989 電工電子產品基本環境試驗規程試驗l砂塵試驗方法.pdf32.GBT2423.38-1990 電工電子產品基本環境試驗規程試驗r 水試驗方法.pdf33.GBT2423.39-1990 電工電子產品基本環境試驗規程試驗ee 彈跳試驗方法.pdf34.GBT2423.40-1997 電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗cx 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱.pdf35.GBT2423.41-1994 電工電子產品基本環境試驗規程風壓試驗方法.pdf36.GBT2423.42-1995 工電子產品環境試驗低溫低氣壓振動(正弦)綜合試驗方法.pdf37.GBT2423.43-1995 電工電子產品環境試驗第二部分 試驗方法元件、設備和其他產品在沖擊,碰撞,振動,和穩態加速度,等動力學試驗中的安裝要求和導則.pdf38.GBT2423.44-1995 電工電子產品環境試驗第二部分 試驗方法試驗eg 撞擊彈簧錘.pdf39.GBT2423.45-1997 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗zabdm:氣候順序.pdf40.GBT2423.46-1997 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗ef:撞擊擺錘.pdf41.GBT2423.47-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fg 聲振.pdf42.GBT2423.48-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ff 振動--時間歷程法.pdf43.GBT2423.49-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fe 振動--正弦拍頻法.pdf44.GBT2423.50-1999 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗cy 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗.pdf45.GBT2423.51-2000 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ke 流動混合氣體腐蝕試驗.pdf46.電子產品老化相關標準資料
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GBT2423.51-2000 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ke 流動混合氣體腐蝕試驗.pdf 535KB2019-03-29 13:34 GBT2423.50-1999 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗cy 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗.pdf 319KB2019-03-29 13:34 GBT2423.49-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fe 振動--正弦拍頻法.pdf 832KB2019-03-29 13:34 GBT2423.48-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ff 振動--時間歷程法.pdf 708KB2019-03-29 13:34 GBT2423.47-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fg 聲振.pdf 773KB2019-03-29 13:34 GBT2423.46-1997 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗ef:撞擊擺錘.pdf 423KB2019-03-29 13:34 GBT2423.45-1997 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗zabdm:氣候順序.pdf 418KB2019-03-29 13:34 GBT2423.44-1995 電工電子產品環境試驗第二部分 試驗方法試驗eg 撞擊彈簧錘.pdf 356KB2019-03-29 13:34 GBT2423.43-1995 電工電子產品環境試驗第二部分 試驗方法元件、設備和其他產品在沖擊,碰撞,振動,和穩態加速度,等動力學試驗中的安裝要求和導則.pdf 496KB2019-03-29 13:34 GBT2423.42-1995 工電子產品環境試驗低溫低氣壓振動(正弦)綜合試驗方法.pdf 246KB2019-03-29 13:34 GBT2423.41-1994 電工電子產品基本環境試驗規程風壓試驗方法.pdf 213KB2019-03-29 13:34 GBT2423.40-1997 電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗cx 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱.pdf 532KB2019-03-29 13:34 GBT2423.39-1990 電工電子產品基本環境試驗規程試驗ee 彈跳試驗方法.pdf 331KB2019-03-29 13:34 GBT2423.38-1990 電工電子產品基本環境試驗規程試驗r 水試驗方法.pdf 357KB2019-03-29 13:34 GBT2423.37-1989 電工電子產品基本環境試驗規程試驗l砂塵試驗方法.pdf 236KB2019-03-29 13:34 GBT2423.36-1986 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zbfc 散熱和非散熱樣品的高溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf 273KB2019-03-29 13:34 GBT2423.35-1986 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zafc 散熱和非散熱試驗樣品的低溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf 270KB2019-03-29 13:34 GBT2423.34-1986 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zad 溫度濕度組合循環試驗方法.pdf 290KB2019-03-29 13:34 GBT2423.33-1989 電工電子產品基本環境試驗規程試驗kca 高濃度二氧化硫試驗方法.pdf 146KB2019-03-29 13:34 GBT2423.32-1985 電工電子產品基本環境試驗規程潤濕稱量法可焊性試驗方法.pdf 172KB2019-03-29 13:34 GBT2423.31-1985 電工電子產品基本環境試驗規程傾斜和搖擺試驗方法.pdf 143KB2019-03-29 13:34 GBT2423.30-1999 電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗xa 和導則在清洗劑中浸漬.pdf 104KB2019-03-29 13:34 GBT2423.29-1999 電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗u 引出端及整體安裝件強度.pdf 421KB2019-03-29 13:34 GBT2423.28-1982 電工電子產品基本環境試驗規程試驗t 錫焊試驗方法.pdf 697KB2019-03-29 13:34 GBT2423.27-1981 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zamd 低溫低氣壓濕熱連續綜合試驗方法.pdf 128KB2019-03-29 13:34 GBT2423.26-1992 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zbm 高溫低氣壓綜合試驗.pdf 211KB2019-03-29 13:34 GBT2423.25-1992 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zam 低溫低氣壓綜合試驗.pdf 202KB2019-03-29 13:34 GBT2423.24-1995 電工電子產品環境試驗第二部分 試驗方法試驗sa 模擬地面上的太陽輻射.pdf 176KB2019-03-29 13:34 GBT2423.23-1995 電工電子產品環境試驗試驗q 密封.pdf 1.2M2019-03-29 13:34 GBT2423.22-2002 電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗n 溫度變化.pdf 302KB2019-03-29 13:34 GBT2423.21-1991 電工電子產品基本環境試驗規程試驗m 低氣壓試驗方法.pdf 107KB2019-03-29 13:34 GBT2423.20-1981 電工電子產品基本環境試驗規程試驗kd 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法.pdf 140KB2019-03-29 13:34 GBT2423.19-1981 電工電子產品基本環境試驗規程試驗kc 接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法.pdf 145KB2019-03-29 13:34 GBT2423.18-2000 電工電子產品環境試驗第二部分 試驗--試驗kb 鹽霧,交變(氯化鈉溶液).pdf 163KB2019-03-29 13:34 GBT2423.17-1993 電工電子產品基本環境試驗規程試驗ka 鹽霧試驗方法.pdf 105KB2019-03-29 13:34 GBT2423.16-1999 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗j和導則長霉.pdf 531KB2019-03-29 13:34 GBT2423.15-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ga和導則穩態加速度.pdf 297KB2019-03-29 13:34 GBT2423.14-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fdc寬頻帶隨機振動低再現性.pdf 444KB2019-03-29 13:34 GBT2423.13-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fdb寬頻帶隨機振動中再現性.pdf 805KB2019-03-29 13:34 GBT2423.12-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fda寬頻帶隨機振動--高再現性.pdf 842KB2019-03-29 13:34 GBT2423.11-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fd寬頻帶隨機振動--一般要求 .pdf 635KB2019-03-29 13:34 GBT2423.10-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fc和導則振動(正弦).pdf 1M2019-03-29 13:34 GBT2423.09-2001 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗cb設備用恒定濕熱.pdf 149KB2019-03-29 13:34 GBT2423.08-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ed自由跌落.pdf 301KB2019-03-29 13:34 GBT2423.07-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ec和導則傾跌與翻倒(主要用于設備型樣品).pdf 237KB2019-03-29 13:34 GBT2423.06-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗eb和導則:碰撞.pdf 545KB2019-03-29 13:34 GBT2423.05-1995 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗ea和導則沖擊.pdf 892KB2019-03-29 13:34 GBT2423.04-1993 電工電子產品基本環境試驗規程試驗db 交變濕熱試驗方法.pdf 192KB2019-03-29 13:34 GBT2423.03-1993 電工電子產品基本環境試驗規程試驗ca 恒定濕熱試驗方法.pdf 124KB2019-03-29 13:34 GBT2423.02-2001 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗b高溫.pdf 744KB2019-03-29 13:34 GBT2423.01-2001 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗a低溫.pdf 499KB2019-03-29 13:34 GB2421-89 電工電子產品基本環境試驗規程總則.pdf
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