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汽車性能

  • 芯睿兼容產品性能說明

    芯睿兼容產品性能說明

    標簽: 兼容 性能

    上傳時間: 2013-11-03

    上傳用戶:xg262122

  • 基于單片機拖拉機性能測試儀的研究

    基于單片機拖拉機性能測試儀的研究

    標簽: 單片機 拖拉機 性能測試儀

    上傳時間: 2014-12-26

    上傳用戶:zjf3110

  • 新型的鍵盤顯示驅動芯片CH451的性能特點和工作原理

    介紹一種新型的鍵盤顯示驅動芯片CH451的性能特點和工作原理,給出了CH451鍵盤顯示驅動芯片與MCS-51單片機的接口方法與相應的軟件驅動程序。

    標簽: 451 CH 鍵盤顯示 性能特點

    上傳時間: 2013-11-08

    上傳用戶:黃酒配奶茶

  • AVR高檔性能低檔價格的單片機ATmega8的開發與應用

    ATmega8屬于美國ATMEL公司AVR高檔單片機成員之一,它具有AVR高檔單片機的性能,且具有低檔單片機的價格,深受廣大單片機用戶的喜愛尤其AVR單片機不需購買昂貴的仿真器編程器也可搞單片機的開發應用,這對單片機初學者尤為重要ATmega8的高性能低價格,在產品應用市場上極具強大的競爭力,被很多家用電器廠商儀器儀表行業看中,從而使ATmega8進入大批量的應用領域為了使國內外用戶深入了解牢固掌握ATmega8的開發與應用,廣州雙龍電子有限公司迅速開發出SL-MEGA8開發實驗器(評估系統),硬件模塊充份考慮到ATmega8的性能特點及其配套電路接口,軟件上也給用戶提供相應的軟件模塊,使用戶快速上手,設計出適合自己項目的科研樣機Atmega8與ATmega16/32/64/128僅存在量的差異,主要性能完全兼容,所以學會ATmega8的開發應用,對其它ATmega系列單片機也就迎刃而解雙龍電子將組織出版一本ATmega8的開發與應用專著,為推廣AVR單片機提供更多的資料。

    標簽: ATmega8 AVR 性能 價格

    上傳時間: 2013-11-03

    上傳用戶:euroford

  • 基于C8051的光纜性能試驗機的設計

    設計了一種基于C8051F340微處理器的新型光纜性能試驗機的控制系統。針對傳統試驗機的不足,簡化了設計方案、提高了采集數據的精度、改進了控制臺的設計和數據轉遞的方式、增加了語音告警和提示功能。該方案能廣泛應用于數據采集、工業監控和網絡傳輸等領域。對硬件和軟件設計中的關鍵技術進行了說明。

    標簽: C8051 光纜 性能 試驗機

    上傳時間: 2013-11-16

    上傳用戶:change0329

  • C8051F040在曳引及制動性能檢測系統中的應用

    基于改善電梯檢測現狀和電梯檢測的高可靠性的考慮,設計了一套基于CAN總線的電梯曳引及制動性能檢測系統。本文著重闡述了檢測系統的CAN節點里比較有代表性的、利用C8051F040單片機設計的一個多功能混合信號節點的硬件和軟件設計方法以及基于此節點的CAN總線系統調試方式。實際應用結果證明本檢測系統的設計方法正確,具備很好的可靠性和應用前景。

    標簽: C8051F040 制動性能 中的應用 檢測系統

    上傳時間: 2013-10-18

    上傳用戶:waizhang

  • DM647,DM648應用及性能

    達芬奇技術使視頻安全與監控應用獲得系統性能雙倍提升,系統成本大幅降低

    標簽: DM 647 648 性能

    上傳時間: 2013-10-11

    上傳用戶:菁菁聆聽

  • 改善基于微控制器的應用的瞬態免疫性能

    家電制造業的競爭日益激烈,市場調整壓力越來越大,原始設備制造商們(OEM)為了面對這一挑戰,必須在滿足電磁兼容性的條件下,不斷降低產品的成本。由于強調成本控制,為防止由電源和信號線的瞬變所產生的電器故障而實施必要的瞬態免疫保護,對于家電設計者來說變得更具挑戰性。由于傳統的電源設計和電磁干擾(EMI)控制措施為節約成本讓路,家電設計者必須開發出新的技術來滿足不斷調整的電磁兼容(EMC)需求。本應用筆記探討了瞬態電氣干擾對嵌入式微控制器(MCU)的影響,并提供了切實可行的硬件和軟件設計技術,這些技術可以為電快速瞬變(EFT)、靜電放電(ESD)以及其它電源線或信號線的短時瞬變提供低成本的保護措施。雖然這種探討是主要針對家電制造商,但是也適用于消費電子、工業以及汽車電子方面的應用。 低成本的基于MCU 的嵌入式應用特別容易受到ESD 和EFT 影響降低性能。即使是運行在較低時鐘頻率下的微控制器,通常對快速上升時間瞬變也很敏感。這種敏感性歸咎于所使用的工藝技術。如今針對低成本8/16位的MCU的半導體工藝技術所實現的晶體管柵極長度在0.65 μm~0.25 μm范圍內。此范圍內的柵極長度能產生和響應上升時間在次納秒范圍內(或超過300 MHz 的等同帶寬)的信號。因此, MCU 能夠響應進入其引腳的ESD 或EFT 信號。除上述工藝技術之外, MCU 在ESD 或EFT 事件中的性能還會受到IC 設計及其封裝、印刷電路板(PCB)的設計、MCU 上運行的軟件、系統設計以及ESD 或EFT 波形特征的影響。各因素的相對影響(強調對最大影響的貢獻)如圖1 所示。

    標簽: 微控制器 瞬態免疫 性能

    上傳時間: 2013-11-09

    上傳用戶:Jerry_Chow

  • TMS320F28335DSP在電力電子變流器中、性能優勢分析

    TMS320F28335DSP在電力電子變流器中、性能優勢分析

    標簽: F28335 28335 320F TMS

    上傳時間: 2013-11-20

    上傳用戶:arnold

  • 基于FPGA的隨機數性能檢測設計

    為了滿足對隨機數性能有一定要求的系統能夠實時檢測隨機數性能的需求,提出了一種基于FPGA的隨機數性能檢測設計方案。根據NIST的測試標準,采用基于統計的方法,在FPGA內部實現了對隨機序列的頻率測試、游程測試、最大游程測試、離散傅里葉變換測試和二元矩陣秩測試。與現在常用的隨機數性能測試軟件相比,該設計方案,能靈活嵌入到需要使用隨機數的系統中,實現對隨機性能的實時檢測。實際應用表明,該設計具有使用靈活、測試準確、實時輸出結果的特點,達到了設計要求。

    標簽: FPGA 隨機數 性能檢測

    上傳時間: 2013-11-13

    上傳用戶:lliuhhui

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