?? 測試芯片技術資料

?? 資源總數(shù):11894
?? 技術文檔:1
?? 源代碼:6253

?? 測試芯片全部資料 (11894個)

版本跟日期(2038以前)允許手動修改,SI9000 v11.4測試通過 SI9000e_UI SI8000m SI8000m_UI SI_EXCEL Si_flexible SI_PROJECTS...

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EN55032:2010,emc測試標準...

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設計高速電路必須考慮高速訊 號所引發(fā)的電磁干擾、阻抗匹配及串音等效應,所以訊號完整性 (signal  integrity)將是考量設計電路優(yōu)劣的一項重要指標,電路日異複雜必須仰賴可 靠的軟...

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