利用T2FNN進(jìn)行MEC建模,針對(duì)IC散射現(xiàn)象進(jìn)行量測(cè)與模擬比較
標(biāo)簽: T2FNN MEC 建模 散射
上傳時(shí)間: 2014-01-10
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cc2430光敏測(cè)試程式,可從串口看到測(cè)得的光敏值
標(biāo)簽: 2430 cc 光敏 程式
上傳時(shí)間: 2013-12-18
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cc2430的濕度測(cè)試程式,可從串口看到傳回的值
標(biāo)簽: 2430 cc 程式
上傳時(shí)間: 2013-12-09
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AVR ATmega48 SPI最簡(jiǎn)單測(cè)試碼! 透過spi_data[x]陣列寫入想要傳送的資料, 而x則是控制傳送第x筆數(shù),而接腳輸出則在PortB的預(yù)設(shè)接腳內(nèi),只要修改spi_data就可以透過示波器看到SPI的信號(hào)了!
標(biāo)簽: spi_data ATmega AVR SPI
上傳時(shí)間: 2014-06-09
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mini2440非操作系統(tǒng)下的測(cè)試源碼,包括對(duì)板上所有硬體,介面,記憶體...的測(cè)試源碼.例cmos攝像頭等,都包含在內(nèi).
標(biāo)簽: mini 2440 cmos 操作
上傳時(shí)間: 2017-03-14
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JAVA 資料庫(kù)讀寫測(cè)試 簡(jiǎn)單的對(duì) MYSQL資料庫(kù)讀寫測(cè)試
標(biāo)簽: MYSQL JAVA
上傳時(shí)間: 2017-03-19
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NANDFLASH ECC檢查碼測(cè)試程式
標(biāo)簽: NANDFLASH ECC 程式
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針對(duì)LE-365所製作的GPIO設(shè)定及模擬測(cè)試程式
標(biāo)簽: GPIO 365 LE 模
上傳時(shí)間: 2014-11-14
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用labview實(shí)現(xiàn)電子測(cè)量器 擬測(cè)試3 設(shè)計(jì)的總體方案 4 硬件部分詳細(xì)分析設(shè)計(jì) 4.1 自控原理學(xué)習(xí)機(jī)4.2 虛擬儀器采集卡 4.4 數(shù)據(jù)通訊線
標(biāo)簽: labview 4.1 4.2 4.4
上傳時(shí)間: 2017-03-30
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超越S參數(shù)測(cè)試安捷龍網(wǎng)絡(luò)分析儀PNA-X Beyond the S parameter test Ansett long network analyzer PNA-X
標(biāo)簽: PNA-X parameter analyzer network
上傳時(shí)間: 2013-12-13
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