采用PIC16F877A單片機(jī),A/D模擬量采集,LED顯示,E2ROM存儲,可斷電保持顯示數(shù)據(jù),已硬件調(diào)示通過.供大家參考.
標(biāo)簽： F877 877A PIC 16F
上傳時間： 2014-02-18
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PIC16F74單片機(jī)A/D10位模擬量采集,12864LCD漢顯,顯示4位數(shù)帶小數(shù)點
標(biāo)簽： 12864 PIC 16F F74
上傳時間： 2014-01-27
上傳用戶：515414293
zbee potocol 無線通訊測試.平臺:microchip 18f452 與 cc2420 zbee 晶片.含coord端與rfd端
標(biāo)簽： zbee microchip potocol 18f452
上傳時間： 2014-01-07
上傳用戶：Shaikh
Visual J++ 6.0中讀取圖像的灰度與進(jìn)行灰度變換。
標(biāo)簽： Visual 6.0 讀取 圖像
上傳時間： 2013-12-24
上傳用戶：himbly
進(jìn)程同步,哲學(xué)家進(jìn)餐共享臨界區(qū)變量.定義信號量機(jī)制控制進(jìn)程不互斥!
標(biāo)簽： 進(jìn)程 家 變量 信號量
上傳時間： 2015-07-25
上傳用戶：ljmwh2000
奇偶哲學(xué)家通過信號量機(jī)制控制進(jìn)程的同步和互斥訪問臨街區(qū)域,保證正常執(zhí)行!
標(biāo)簽： 家 信號量 機(jī)制 控制
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現(xiàn)代先進(jìn)微處理器有非常高的集成度和復(fù)雜度，又有寄存器堆、Cache等嵌入式部件，而且芯片管腳數(shù)相對較少，必須要有一定的自測試設(shè)計和其它的可測試性設(shè)計來簡化測試代碼，提高故障覆蓋率。本文簡要討論NRS4000微處理器芯片的以邊界掃描測試為主體，以自測試為補(bǔ)充的可測試性設(shè)計框架。著重介紹芯片的邊界掃描設(shè)計和芯片中譯碼控制器PLA和微程序ＲＯＭ以及采用內(nèi)嵌RAM結(jié)構(gòu)的指令Cache和寄存器堆的內(nèi)建自測試設(shè)計。仿真結(jié)果表明，這些可測試性設(shè)計大大縮短了測試代碼的長度。
標(biāo)簽： 微處理器 復(fù)雜度 集成
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這是RarnuC的Exe程序。是百度編程群老大Rarnu的個人作品。希望大家喜歡。
標(biāo)簽： RarnuC Rarnu Exe 程序
上傳時間： 2013-12-02
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干擾信息的灰度預(yù)測matlab仿真代碼
標(biāo)簽： matlab 干擾 仿真 代碼
上傳時間： 2015-08-05
適應(yīng)灰度和光照變化的運動目標(biāo)跟蹤方法 方法很先進(jìn)
標(biāo)簽： 灰度 光照 變化 運動目標(biāo)跟蹤
上傳時間： 2014-12-06
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