德州儀器新款DSP TMS320C2834X 晶片 SCI 自動 BAUD 偵測程式設計.
上傳時間： 2013-12-01
上傳用戶：ayfeixiao
這是可以自動偵測並updateIBM Thinkad的notbook程式.還不錯.連bios也可以updateㄛ
標簽： updateIBM Thinkad notbook update
上傳時間： 2015-03-29
上傳用戶：hoperingcong
此為philip 1362 USB DOS下的驅動程式包, 已經共測試並內含有說明文件
上傳時間： 2015-04-21
上傳用戶：bruce
USB20原理與研發技術 一書的源碼, 從基本原理到軟體驅動到測試程式發展, 一應俱全.
上傳時間： 2013-12-13
上傳用戶：huannan88
DSP 28335 baud 自動偵測源碼
上傳時間： 2017-01-14
上傳用戶：lanwei
*** *** *** *** *** *** *** *** * RTL8019測試程式說明 By hugang, hgx2000@mail.china.com ************************************************* 1.文件說明 Net : Rtl8019驅動代碼 Src : 主程式代碼 Inc : 主程式的頭文件 Debug : SDT目標代碼 Myusb_Data : ADS目標代碼 Myusb.apj : SDT2.51工程文件 Myusb.mcp : ADS1.2工程文件 Myusb.PR : SourceInsight3.5工程文件
上傳時間： 2014-11-23
上傳用戶：jichenxi0730
*** *** *** *** *** *** *** *** * USB測試程式說明 By hugang, hgx2000@mail.china.com ************************************************* 1.文件說明 Usb : PDIUSB12驅動代碼 Src : 主程式代碼 Inc : 主程式的頭文件 Debug : SDT目標代碼 Myusb_Data : ADS目標代碼 Tools : PC端測試程式及驅動 Myusb.apj : SDT2.51工程文件 Myusb.mcp : ADS1.2工程文件 Myusb.PR : SourceInsight3.5工程文件
上傳時間： 2016-04-09
上傳用戶：cainaifa
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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PC電源測試系統chroma8000簡介
上傳時間： 2013-11-08
上傳用戶：xiehao13
自適應矢量化算法（VQ）源程序VQ
上傳時間： 2015-03-09
上傳用戶：skfreeman
