?? BOUNDARY-SCAN技術(shù)資料

?? 資源總數(shù)：143
?? 源代碼：13159
Boundary-Scan技術(shù)，又稱(chēng)JTAG測(cè)試，是現(xiàn)代電子設(shè)計(jì)中不可或缺的調(diào)試與測(cè)試手段。它通過(guò)在芯片引腳間建立掃描路徑，實(shí)現(xiàn)對(duì)電路板上難以觸及節(jié)點(diǎn)的訪(fǎng)問(wèn)，極大提升了故障診斷效率及生產(chǎn)良率。廣泛應(yīng)用于消費(fèi)電子、汽車(chē)電子、航空航天等領(lǐng)域復(fù)雜PCB的設(shè)計(jì)驗(yàn)證與維護(hù)。掌握這一技能對(duì)于提升個(gè)人競(jìng)爭(zhēng)力至關(guān)重要。本站匯集了143份精選資料，涵蓋從基礎(chǔ)理論到高級(jí)應(yīng)用的全方位指導(dǎo)，助您快速成長(zhǎng)為該領(lǐng)域的專(zhuān)家。

?? BOUNDARY-SCAN熱門(mén)資料

查看全部143個(gè)資源 ?

這篇文章主要介紹ARM JTAG調(diào)試的基本原理?；镜膬?nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG調(diào)試原理。...

?? ?? 上善若水

?? BOUNDARY-SCAN源代碼

查看更多 ?
?? BOUNDARY-SCAN資料分類(lèi)