CCD（電荷耦合器件）的基本功能是將光學圖像信號轉(zhuǎn)變成一維以時間為變量的電壓信號，廣泛的應用于元件尺寸測量以及位置檢測系統(tǒng)中。本課題背景是利用CCD檢測帶材邊緣的位置信息，為后續(xù)的控制系統(tǒng)提供數(shù)據(jù)。在帶鋼軋制現(xiàn)場，光照強度浮動因數(shù)很多：例如，光源受污染；給光源供電的電壓波動等都會造成光照條件的改變，影響測量的準確性，不利于提高系統(tǒng)的信噪比l。為了提高系統(tǒng)的測量精度和抗干擾性，需要實時改變CCD的光積分時間以補償現(xiàn)場環(huán)境的影響。本文以TCD1501D型CCD芯片為例，分析了芯片的工作過程和驅(qū)動芯片的各個信號的要求，闡述了CCD驅(qū)動電路自適應的實現(xiàn)，最后給出了系統(tǒng)仿真結(jié)果。1TCD1501D型CCD的工作原理和驅(qū)動時序的產(chǎn)生1.1TCD1501D芯片的介紹TCDI501D4是一種高靈敏度、低暗電流、5000像元且內(nèi)置采樣保持電路的線陣CCD圖像傳感器。
標簽：
cpld
tcd1501d
ccd
驅(qū)動電路
上傳時間：
2022-06-23
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