?? 試與分析技術資料

?? 資源總數：16360
?? 源代碼：14796
探索「試與分析」技術，掌握從基礎到高級的電子測試與數據分析方法。涵蓋電路設計驗證、信號處理及故障診斷等多個領域，是每位電子工程師不可或缺的知識體系。通過16360個精選資源，包括教程、案例研究和技術文檔，幫助您深入了解如何利用現代工具進行高效準確的測試與分析工作。無論是初學者還是經驗豐富的專業人士，都能在這里找到提升技能所需的一切。立即訪問，開啟您的專業成長之旅！

?? 試與分析熱門資料

查看全部16360個資源 ?

靜電放電（ＥＳＤ）是造成大多數電子元器件或電路系統破壞的主要因素。因此，電子產品中必須加上ＥＳＤ保護，提供ＥＳＤ電流泄放路徑。電路模擬可應用于設計和優化新型ＥＳＤ保護電路，使ＥＳＤ保護器件的設計不再停留于舊的設計模式。文中討論了器件由ＥＳＤ引起的熱效應的失效機理及研究熱效應所使用的模型。介紹用于ＥＳ...

?? ?? 二十八號

針對室內CCD交匯測量的試驗環境，通過添加輔助光源照明，在基于CCD立靶測量原理的條件下，分析了室內立靶影響捕獲率的原因，并建立了室內立靶的捕獲率模型。該模型能夠為室內立靶測量系統的捕獲率計算和研究提供依據。同時，對立靶捕獲率進行了仿真分析，仿真結果表明，該系統的捕獲率能夠達到90%。 ...

?? ?? 13160677563

針對圖像占用空間大，特征表示時維數較高等的缺點，系統介紹了主成分分析（PCA）的基本原理。提出了利用PCA進行圖像數據壓縮與重建的基本模型。實驗結果表明，利用PCA能有效的減少數據的維數，進行特征提取，實現圖像壓縮，同時并根據實際需要重建圖像。 ...

?? ?? JGR2013

?? 試與分析源代碼

查看更多 ?
?? 試與分析資料分類