工業(yè)X-CT（X-ray Computed Tomography）無損檢測技術(shù)是以不損傷或者破壞被檢測對象的一種高新檢測技術(shù)，被譽為最佳的無損檢測手段，在無損檢測領(lǐng)域日益受到人們的青睞。近年來，各國都在投入大量的人力、物力對其進行研究與開發(fā)。 目前，工業(yè)CT主要采用第二代和第三代掃描方式。在工業(yè)CT第三代掃描方式中，掃描系統(tǒng)僅作“旋轉(zhuǎn)”運動，控制系統(tǒng)比較簡單。對此，我國已取得了可喜的成績。然而，對工業(yè)CT系統(tǒng)中的二代掃描運動控制系統(tǒng)，即針對“平移+旋轉(zhuǎn)”運動的控制系統(tǒng)的研究，我國已有采用，但與發(fā)達國家相比，還存在較大的差距。二代掃描方式與其它掃描方式相比，具有對被檢物的尺寸沒有要求，且能夠?qū)Ω信d趣的檢測區(qū)域進行局部掃描的獨特優(yōu)點。同時X光源的射線出束角較小（一般小于20°），因此在工業(yè)X-CT系統(tǒng)主要采用二代掃描運動控制。有鑒于此，本論文結(jié)合有關(guān)科研項目，開展了工業(yè)X-CT二代掃描控制系統(tǒng)的研究。 論文首先介紹了工業(yè)X-CT系統(tǒng)的工作原理和各種掃描運動控制方式的特點，闡述了開展二代掃描控制的研究目的和意義。其次，根據(jù)二代掃描控制的特點，提出了“在優(yōu)先滿足工業(yè)X-CT二代掃描控制的基礎(chǔ)上，力求實現(xiàn)對工業(yè)X-CT掃描運動的通用控制，使其能同時支持一、三代掃描方式”的設(shè)計思想。據(jù)此，研究確立了基于單片機AT89LV52及FPGA芯片EP1C3T100C8的運動控制架構(gòu)，以實現(xiàn)二代掃描控制系統(tǒng)的設(shè)計方案。論文詳細介紹了可編程邏輯器件FPGA的工作原理和開發(fā)流程，并對其相關(guān)開發(fā)環(huán)境QuartusII4.1作了闡述。結(jié)合運動控制系統(tǒng)的硬件設(shè)計，詳細介紹了各功能模塊的具體設(shè)計過程，給出了相關(guān)的設(shè)計原理框圖和實際運行波形。并制作了相應(yīng)的PCB板，調(diào)試了整個硬件控制系統(tǒng)。最后，論文還詳細研究了利用VisualC++6.0來完成上位機控制軟件的設(shè)計，給出了運動控制主界面及掃描運動控制功能軟件設(shè)計的流程圖。 論文對整個運動控制系統(tǒng)采用的經(jīng)濟型的開環(huán)控制技術(shù)所帶來的不利影響，分析研究了增加步進電機的細分數(shù)以提高掃描精度的可能性，并對所研究的控制系統(tǒng)在調(diào)試過程中出現(xiàn)的一些問題及解決方案作了簡要的分析，提出了一些完善方法。
標簽：
FPGA
X-CT
工業(yè)
掃描控制
上傳時間：
2013-04-24
上傳用戶：stella2015
