詳細介紹了開關電源的設計,再勵磁回路串接約為勵磁繞組電阻值10倍的附加電阻來構成閉合電路，把同步電動機的定子直接接入電網，使之按異步電動機啟動，當轉速達到亞同步轉速（95%）時，再切除附加電阻。
標簽： 勵磁 開關電源 回路 繞組
上傳時間： 2014-01-14
上傳用戶：從此走出陰霾
這個章節(jié)將詳細介紹Windows CE 系統(tǒng)中的處理程序 (process) 和執(zhí)行緒 (thread)，並對Windows CE作業(yè)系統(tǒng)所使用的排程策略進行分析。處理程序是資源分配的基本單位，而執(zhí)行緒是排程的基本單位。
標簽： Windows process thread CE
上傳時間： 2015-07-01
上傳用戶：cx111111
介紹一套即時作業(yè)系統(tǒng)uC/OS-II,詳細解說各function的用法,還有移植教學.
標簽： function OS-II uC 系統(tǒng)
上傳時間： 2016-02-06
上傳用戶：rocwangdp
無線通訊系統(tǒng)仿真原理與應用 詳細介紹通訊的仿真方法，並附上這本書的Matlab source code
標簽： 仿真 無線 系統(tǒng)
上傳時間： 2017-05-12
上傳用戶：498732662
大量篇幅介紹VxD 程式設計的技術與實作細節(jié)（包括 Plug & Play device, Communication Driver, Serial Port, VCOMM, IOS, IFS... ）。其內容之詳盡豐富，技術之深刻紮 實，實在是這個領域的罕見好書
標簽： Communication Driver Serial device
上傳時間： 2016-12-31
上傳用戶：tzl1975
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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fortrand的入門書籍 介紹了fortran的基本語法 內容非常詳盡 而且簡單易懂
標簽： fortrand fortran
上傳時間： 2016-10-21
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c#入門知識,介紹比較細緻，容易看懂，適合初學者看
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上傳時間： 2017-02-27
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介紹JSTL Taglib 細部使用方法
標簽： Taglib JSTL
上傳時間： 2014-01-26
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開關電源基本原理與設計介紹 ppt
標簽： 開關電源
上傳時間： 2013-07-24
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